資料簡介
環(huán)境應力的篩選試驗主要有以下情形:
在電子產(chǎn)品上施加隨機振動及溫度循環(huán)應力,以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期失效的一種工序或方法.
為發(fā)現(xiàn)和排除不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現(xiàn)早期失效,在環(huán)境應力下所做的一系列試驗。
為暴露產(chǎn)品的薄弱部分及質量缺陷,在環(huán)境應力下所做的一系列試驗。
在環(huán)境應力作用下的一系列試驗,目的是暴露薄弱部件及工藝缺陷,以便糾正。
在許多情況下,通過篩選除去“不耐用的”器件,可以提高一個批的整體可靠性。電子器件的篩選通常在二極管或晶片水平,其它元器件的篩選在模塊(或集成模塊)水平。此外,篩選通常還包括在二極管或晶片水平的老化,在模塊(或集成模塊)水平的 溫度循環(huán) 和 老化 。老化能夠保證器件使用時光學性能穩(wěn)定。對檢測器件潛在的ESD損傷(有時會導致門檻電流或其它我的不正常變化,并且用其它“被支的”測試不能觀測到,例如 高溫烘烤 )也很有用。溫度循環(huán)有助于消除模塊里的耦光元件的不穩(wěn)定性(對于許多模塊的長期可靠性來說,這是一個關鍵環(huán)節(jié))。
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