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如何避免直讀光譜儀誤差
2020年07月01日 08:48:49
來源：化工儀器網 點擊量：4734
直讀光譜儀即原子發射光譜儀，是伴隨著計算機技術的發展迅速發展的一類儀器。由于計算機技術的發展，電子技術的發展，電子計算機的小型化及微處理機的出現和普及，成本降低等原因，光譜儀器從很久以前就采用計算機控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結果的數據處理和分析過程實現自動化控制。
【化工儀器網 技術指導】直讀光譜儀即原子發射光譜儀，是伴隨著計算機技術的發展迅速發展的一類儀器。由于計算機技術的發展，電子技術的發展，電子計算機的小型化及微處理機的出現和普及，成本降低等原因，光譜儀器從很久以前就采用計算機控制，這不僅提高了分析精度和速度，而且對分析結果的數據處理和分析過程實現自動化控制。
直讀光譜儀用于對金屬材料化學成分的定量檢測，目的在于對被檢測材料有一個直接的了解，以判斷被測材料是否合格。直讀光譜儀雖然本身測量準確度很高，但測定試樣中元素含量時， 所得結果與真實含量通常不一致，存在一定誤差。下面就誤差的種類、來源及如何避免誤差進行分析。
根據誤差的性質及產生原因， 直讀光譜儀誤差主要有兩類：
1. 直讀光譜儀系統誤差
(1)標樣和試樣中的含量和化學組成不完全相同時，可能引起基體線和分析線的強度改變，從而引入誤差。
(2)標樣和試樣的物理性能不完全相同時，激發的特征譜線會有差別從而產生系統誤差。
(3)澆注狀態的鋼樣與經過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態的鋼樣金屬組織結構不相同時，測出的數據會有所差別。
(4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時，混入未知合金元素而引入系統誤差。
要消除系統誤差，需要嚴格按照標準樣品制備規定要求進行樣品備制。為了檢查系統誤差，還需要采用化學分析方法分析多次校對結果。
2.直讀光譜儀偶然誤差
偶然吳超與樣品成分不均勻有關。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性，導致不同部位的分析結果不同而產生偶然誤差。
(1)熔煉過程中帶入夾雜物，產生的偏析等造成樣品元素分布不均。
(2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。
(3)磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時間太長和壓上指紋等因素。
要減少偶然誤差，就要精心取樣，消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷，也可以重復多次分析來降低分析誤差。
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