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要更好的推動電子工業發展,標準的力量不容忽視。近日,工業和信息化部根據標準修制訂計劃,組織完成了《半導體集成電路沖壓型引線框架》等14項行業標準和《光伏器件 第2部分:標準光伏器件的要求》等26項國家標準的制修訂工作。
序號 | 計劃編號 | 標準名稱 | 性質 | 代替標準 | 采標情況 |
| 20121245-T-339 | 光伏器件 第2部分:標準光伏器件的要求 | 推薦 | GB/T 6495.2-1996 | IEC 60904-2:2015, |
| 20132173-T-339 | 光纜 第4-10部分:沿電力線路架設的光纜 光纖復合架空地線門類規范 | 推薦 |
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| 20132174-T-339 | 光纜 第4-20部分:沿電力線路架設的光纜 全介質自承式架空光纜門類規范 | 推薦 |
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| 20132175-T-339 | 光纜 第4-30部分:沿電力線路架設的光纜 光纖復合架空相線門類規范 | 推薦 |
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| 20132181-T-339 | 光纜 第7-20部分:室內光纜 多芯光纜門類規范 | 推薦 |
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| 20132184-T-339 | 光纜 第7-50部分:室內光纜 終端光纜組件用單芯和雙芯光纜門類規范 | 推薦 |
| |
| 20141834-T-339 | 金屬通信電纜試驗方法 第4-12部分:電磁兼容 連接硬件的耦合衰減或屏蔽衰減 吸收鉗法 | 推薦 |
| IEC 62153-4-12: |
| 20141835-T-339 | 金屬通信電纜試驗方法 第4-13部分:電磁兼容 鏈路和信道(實驗室條件)耦合衰減 吸收鉗法 | 推薦 |
| IEC 62153-4-13: |
| 20141836-T-339 | 金屬通信電纜試驗方法 第4-14部分:電磁兼容 電纜組件(現場條件)的耦合衰減 吸收鉗法 | 推薦 |
| IEC 62153-4-14: |
| 20141840-T-339 | 無源射頻和微波元器件的互調電平測量 第1部分:一般要求和測量方法 | 推薦 | GB/T 21021-2007 | IEC 62037-1:2012, |
| 20141841-T-339 | 無源射頻和微波元器件的互調電平測量 第2部分:同軸電纜組件的無源互調測量 | 推薦 |
| IEC 62037-2:2012, |
| 20141842-T-339 | 無源射頻和微波元器件的互調電平測量 第3部分:同軸連接器的無源互調測量 | 推薦 |
| IEC 62037-3:2012, |
| 20141843-T-339 | 無源射頻和微波元器件的互調電平測量 第4部分:同軸電纜的無源互調測量 | 推薦 |
| IEC 62037-4:2012, |
| 20141845-T-339 | 電子設備用電位器 第6部分:分規范 表面安裝預調電位器 | 推薦 |
| IEC 60393-6:2015, |
| 20141006-T-339 | 鐵氧體磁心表面缺陷極限導則 第5部分:平面磁心 | 推薦 |
| IEC 60424-5:2009, |
| 20151501-T-339 | 數字器件和設備用噪聲抑制片 第1部分:定義和一般性能 | 推薦 |
| IEC 62333-1:2006, |
| 20151502-T-339 | 數字器件和設備用噪聲抑制片 第3部分:噪聲抑制片的參數特性 | 推薦 |
| IEC 62333-3:2010, |
| 20151503-T-339 | 數字器件和設備用噪聲抑制片 第2部分:測量方法 | 推薦 |
| IEC 62333-2:2006, |
| 20151768-T-339 | 液晶顯示器件 第6-1部分:液晶顯示器件測試方法 光電參數 | 推薦 | GB/T 18910.61-2012 |
|
| 20151770-T-339 | 液晶顯示器件 第20-3部分:目檢 有源矩陣彩色液晶顯示模塊 | 推薦 |
| IEC 61747-20-3: |
| 20151771-T-339 | 有機發光二極管顯示器件 第6-3部分:圖像質量測試方法 | 推薦 |
| IEC 62341-6-3: |
| 20160561-T-339 | 微型導熱管 | 推薦 |
|
|
| 20173535-T-339 | 平衡車用鋰離子電池和電池組 安全要求 | 推薦 |
|
|
| 20171049-T-339 | 有質量評定的石英晶體振蕩器 第4部分:分規范--能力批準 | 推薦 |
| IEC 60679-4:1997, |
| 20141071-T-339 | 印制電路用剛性覆銅箔層壓板通用規則 | 推薦 | GB/T 4721-1992 |
|
| 20141864-T-339 | 錫焊用助焊劑 | 推薦 | GB/T 9491-2002 | |
序號 | 標準編號 | 標準名稱 | 代替標準 | 采標情況 |
| SJ/T 11773-2020 | 半導體集成電路沖壓型引線框架 |
|
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| SJ/T 11774-2020 | 集成電路引線框架電鍍銀層技術規范 |
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| SJ/T 11775-2020 | 半導體材料多線切割機 |
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| SJ/T 11776-2020 | 諧波保護器 |
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| SJ/T 11457.1.3-2020 | 波導型介電諧振器 第1-3部分:綜合性信息和試驗條件-微波頻段介電諧振器材料復相對介電常數的測量方法 |
| IEC 61338-1-3:1999,IDT |
| SJ/T 11457.1.4-2020 | 波導型介電諧振器 第1-4部分:綜合性信息和試驗條件-毫米波頻段介電諧振器材料復相對介電常數的測量方法 |
| IEC 61338-1-4:2005,IDT |
| SJ/T 11460.3.3.1-2020 | 液晶顯示用背光組件 第3-3-1部分:電視接收機用直下式LED背光組件詳細規范 |
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| SJ/T 11777-2020 | 半導體管特性圖示儀校準儀技術要求和測量方法 |
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| SJ/T 11778-2020 | 便攜式家用電器用鋰離子電池和電池組 安全要求 |
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| SJ/T 11779-2020 | 印制電路用導熱型涂樹脂銅箔 |
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| SJ/T 2660-2022 | 錫焊用助焊劑試驗方法 | SJ 2660-1986 |
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| SJ/T 10551-2020 | 電子陶瓷用三氧化二鋁中雜質的發射光譜分析方法 | SJ/T 10551-1994 |
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| SJ/T 10553-2020 | 電子陶瓷用二氧化鋯中雜質的發射光譜分析方法 | SJ/T 10553-1994 |
|
| SJ/T 10552-2020 | 電子陶瓷用二氧化鈦中雜質的發射光譜分析方法 | SJ/T 10552-1994 | |
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