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蔡司推出新型場發射掃描電子顯微鏡
2020年11月26日 08:50:18 來源:蔡司 點擊量:19059

近日,蔡司展示了其新一代的場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)系列ZEISS GeminiSEM。新型蔡司GeminiSEM 360、460和560專為亞納米成像和輕松分析而量身定制。用戶將受益于電子光學技術的創新和提供更好圖像質量,可用性和靈活性的新型腔室設計。

  【化工儀器網 新品推薦】近日,蔡司展示了其新一代的場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)系列ZEISS GeminiSEM。新型蔡司GeminiSEM 360、460和560專為亞納米成像和輕松分析而量身定制。用戶將受益于電子光學技術的創新和提供更好圖像質量,可用性和靈活性的新型腔室設計。
 
  現已推出的ZEISS GeminiSEM 560首次將以ZEISS Gemini 3色譜柱推向市場。
 
  新型蔡司GeminiSEM系列可提供任何樣品的更多信息,較大程度地減少樣品損壞并防止樣品偽影。這三種型號均采用全新的腔室設計,使研究人員能夠比以前引入更大和更多的樣品,從而使核心設施現在可以在一臺儀器中為更多的分析應用提供服務。蔡司雙子座電子光學鏡筒的獨特設計以及大而靈活的新型反應室,可滿足所有成像和分析需求。較大的腔室可實現可配置性和靈活性,以適應即將到來的研究任務并優化分析工作流程。
 
  新型電子光學柱和智能自動駕駛儀
 
  蔡司GeminiSEM 560設定了表面成像的新標準。引入了帶有納米雙透鏡的新型蔡司Gemini 3電子光學器件及其新型電子光學引擎Smart Autopilot,該器件經過定制,可在以高分辨率對敏感的樣品成像時易于使用。在蔡司GeminiSEM系列產品中,560型在所有工作條件下均可提供較高分辨率,并在著陸能量低于1 kV時突破了浸沒和無單色表面成像的極限。
 
  非導電礦物蒙脫石在斷裂表面上的納米級特征,在低著陸能量下可視化,蔡司GeminiSEM 560,Inlens SE圖像,800 V,比例尺為100 nm。
 
  在成像和分析中提高效率和易用性
 
  該系統可以輕松地從標準設置過渡到高級設置。新的概覽模式簡化了樣品的定向。用戶可以輕松地從低放大率導航到高放大率,而無需調整列的對齊方式。該系統可提供同類產品中大的無失真視場。這樣就可以對大型的,具有挑戰性的樣品進行成像,例如材料研究中的磁性樣品。改進后的自動功能是目前世界上較快的,其自動對焦功能可在不到一秒鐘的時間內提供聚焦圖像。
 
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