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移動端訪問更便捷首次落戶中國!國際SIMS(二次離子質譜)會議將于2026年在廣州舉辦
2022年10月17日 15:31:50
來源:化工儀器網 點擊量:4951

據悉,2026年國際SIMS會議首次落戶中國,將在中國廣州舉辦!
【化工儀器網 時事熱點】近日,香港科技大學(廣州)消息稱,中國廣州已獲國際二次離子質譜(Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS)組委會同意,得到2026年國際SIMS會議的舉辦權,大會首次落戶中國,將在香港科技大學(廣州)舉行。2026年國際SIMS會議組織委員會主席將由香港科技大學(廣州)材料表征與制備中心主任、先進材料學域兼任教授翁祿濤擔任。
SIMS即“二次離子質譜”(secondary ion mass spectroscopy)。據悉,國際SIMS會議每兩年舉辦一次,是SIMS領域最頂級的學術會議。按照慣例,分別由北美、歐洲和亞洲三個地區的國家輪流舉辦,2026年國際SIMS會議在中國廣州舉辦,這將是該會議首次在中國舉辦,我國也成為第三個舉辦該會議的亞洲國家,此前舉辦過該會議的亞洲為日本、韓國。
據了解,SIMS(二次離子質譜)是一項高度“交叉”的分析技術,是目前最為先進的微區分析手段,也是目前應用最廣泛的表面分析技術之一,在材料、生物、地球科學、天體化學、半導體工業等領域扮演十分重要的角色。
二次離子質譜儀也稱離子探針,具有高分辨率、高精度、高靈敏等特征,非常靈敏,它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面,使樣品表面的分子吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子,就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。
SIMS技術雖然在我國起步比較晚,但近十年來發展十分迅猛,學界、產業界的儀器數量和相關學術研究的水平均不斷增長和提升,也得到了國際上的認可。多年來,翁祿濤教授一直致力于發展SIMS技術在中國的應用,作為國際SIMS組委會中唯一的華人代表,還積極推進著中國與國際SIMS領域的深入交流。
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