DS8000 DE-2000 DPO2 DELTA手持式X射線熒光分析儀
- 公司名稱 儀景通光學(xué)科技(上海)有限公司
- 品牌 EVIDENT
- 型號(hào) DS8000 DE-2000 DPO2
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/4/23 21:17:53
- 訪問(wèn)次數(shù) 8709
聯(lián)系方式:市場(chǎng)部4008751717分機(jī)806 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
行業(yè)專用類型 | 通用 | 儀器種類 | 手持式/便攜式 |
---|
用于合金和金屬檢測(cè)的DELTA手持式X射線熒光分析儀可為用戶提供極為精細(xì)的材料化學(xué)成份信息,從而可以迅速、精確地辨別合金的牌號(hào)和純金屬。從簡(jiǎn)單的分揀到富于挑戰(zhàn)性的牌號(hào)區(qū)分,從來(lái)料檢測(cè)到終產(chǎn)品的校驗(yàn),DELTA都會(huì)在數(shù)秒內(nèi)得到合金的化學(xué)成份信息及牌號(hào)ID。
DELTA手持式X射線熒光分析儀裝配有一個(gè)至少含25種元素的標(biāo)準(zhǔn)軟件包,在數(shù)秒鐘之內(nèi)即可生成合金的化學(xué)成份信息,并確定合金的牌號(hào)ID。從簡(jiǎn)單的分揀到富于挑戰(zhàn)性的牌號(hào)區(qū)分,DELTA都會(huì)提供極為精細(xì)的材料化學(xué)成份信息,從而可快速精確地辨別純金屬和合金的級(jí)別。這些金屬和合金包含但不限于以下所列項(xiàng)目:
DELTA可區(qū)分金屬與合金
鋁合金 | 貴金屬 |
鉻鉬鋼 | 不銹鋼 |
鈷合金 | 工具鋼 |
銅合金 | 鈦合金 |
異常合金 | 鍛鋁合金 |
鎂合金 | 鋅合金 |
鎳合金 | 鋯合金 |
鎳/鈷合金 |
在您需要一個(gè)性能可靠的分析工具對(duì)材料的成份進(jìn)行快速精確的辨別時(shí),請(qǐng)使用我們的DELTA分析儀。無(wú)論何時(shí)何地,DELTA都會(huì)對(duì)各種工件進(jìn)行較以往更快更精確的檢測(cè)。這些部件包含削屑、刨花、棒、線、細(xì)小的工件和部件,以及更大的材料或結(jié)構(gòu)。
*的鋁元素分析
這款分析儀可以方便、直接地分揀和定級(jí)鋁材以及含鋁元素的材料。DELTA Premium分析儀所提供的鋁材分析性能。
鋁合金
-
可精確測(cè)量5000系列合金材料中的鎂元素的含量,還可區(qū)分含鎂合金。可分揀以下材料:3003和3004,1100和6063,2014和2024。
鈦合金
-
可以精確判定鈦合金以及那些使用鋁制工具分割的純鈦金屬中鋁元素的含量。
紅銅
-
可以精確地對(duì)鋁青銅和硅青銅分類。
高溫不銹鋼鑄件
-
可測(cè)量溫度*的鎳/鈷超級(jí)合金中的鋁元素含量
對(duì)微小部件及焊縫進(jìn)行分析
可配置3毫米直徑微點(diǎn)準(zhǔn)直器,以對(duì)樣件進(jìn)行高度聚焦的分析。內(nèi)置于分析儀中的全VGA攝像頭可以實(shí)時(shí)拍出被測(cè)樣件的視頻圖像,并在確切的測(cè)試區(qū)域上疊加一個(gè)點(diǎn)位置??蓪?duì)基底材料以上的細(xì)小焊道進(jìn)行分析。 還可以對(duì)起固定作用的小部件、線及焊料進(jìn)行分析。
-
通過(guò)在3毫米直徑準(zhǔn)直微點(diǎn)與標(biāo)準(zhǔn)的10毫米直徑分析點(diǎn)之間切換的方式,實(shí)時(shí)改變點(diǎn)的大小。
-
分析后,樣件圖像被保存在內(nèi)存中。圖像與分析結(jié)果一同被歸檔,并在生成檢測(cè)報(bào)告時(shí)被導(dǎo)出。
-
結(jié)實(shí)耐用的手持式分析儀具有臺(tái)式光譜儀的便利特性。
用于PCB(印制電路板)部件分析的微點(diǎn)準(zhǔn)直功能 | 對(duì)焊道進(jìn)行3毫米微點(diǎn)準(zhǔn)直檢測(cè),焊接材料除外 |
焊罩適配器
裝有焊罩的DELTA Premium合金分析儀
堅(jiān)固結(jié)實(shí)的焊罩可被裝于分析儀突出部分的前面板上,以對(duì)3毫米寬的窄縫進(jìn)行準(zhǔn)直分析(這種準(zhǔn)直分析是在現(xiàn)場(chǎng)對(duì)焊道進(jìn)行快速分析的有效方法)。DELTA焊罩的設(shè)計(jì)目的是檢測(cè)多層金屬,因此不會(huì)檢測(cè)基底材料。