1. 產品概述

RM 1000 和 RM 2000 光譜反射儀可測量表面光滑或粗糙的平面或彎曲樣品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert軟件計算單膜或層疊的厚度、消光系數和折射率。厚度分別為 2 nm 和 50 μm （RM 2000） 或 100 μm （RM 1000） 的單片、層疊和基板可以在 UV-VIS-NIR 光譜范圍內進行分析。

2. 主要功能與優勢

突破折光率測量的限

SENTECH反射儀通過樣品的高度和傾斜調整以及光學布局的高光導率，具有精密的單光束反射率測量功能，允許對n和k進行可重復的測量，在粗糙表面上進行測量，以及對非常薄的薄膜進行厚度測量。

紫外到近紅外光譜范圍

RM1000 410 納米 – 1000 納米

RM2000 200 納米 – 1000 納米

高分辨率映射

RM 1000 和 RM 2000 反射儀可選配 x-y 成像臺和成像軟件以及用于小光斑尺寸的物鏡。

3. 靈活性和模塊化

SENTECH RM 1000 和 RM 2000 代表我們的反射儀。桌面設備包括高度穩定的光源、帶有自動準直望遠鏡和顯微鏡的反射光學器件、攝像機、高度和傾斜度可調的樣品平臺、光譜光度計和電源。它可以選配 x-y 成像臺和成像軟件，以及用于第二種光斑尺寸的物鏡。

除了薄膜厚度和光學常數外，薄膜的組成（例如氮化鎵上的AlGaN，硅上的SiGe），增透膜（例如在紋理硅太陽能電池上，紫外線敏感的GaN器件）以及小型醫療支架上的涂層都可以通過我們的反射儀進行測量。這些反射儀支持微電子、微系統技術、光電子、玻璃涂層、平板技術、生命科學、生物技術等域的應用。

用于我們的反射儀 RM 1000 / 2000 的綜合性、以配方為導向的 SENTECH FTPadv EXPERT 軟件包括測量設置、數據采集、建模、擬合和報告。已經內置了一個包含預定義、客戶驗證和即用型應用程序的廣泛數據庫。“自動建模”選項允許從光譜庫中自動選擇樣本模型。基于SENTECH在橢圓偏振光譜方面的業知識，龐大的材料庫和各種色散模型使我們的光譜反射儀能夠分析幾乎所有的材料和薄膜。操作員可以很容易地使用新的光學數據更新數據庫。SENTECH通過橢圓偏振光譜法測量具有未知光學特性的新材料，為客戶提供支持。