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XRF鍍層厚度檢測儀
ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點:
ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術,該技術已經被證實并且得到廣泛應用,可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的22到U92,并且具有不同大小的樣品艙。
ACZET系列鍍層測厚儀的優勢
操作軟件
可選軟件模塊
選配置
Cube系列技術特點
一、功能
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足GB/T 16921-2005標準(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。
二、特點
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
1 | Cube X射線鍍層測厚儀 |
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售后服務
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