[報告簡介]

    輕敲模式Tapping AFM-IR+是AFM-IR技術（也稱為PiFM, PTE and PTIR）新檢測模式，該技術通過探測AFM微懸臂對樣品光-熱膨脹的響應信號，實現樣品局域紅外吸收信號的測量。

    我們將現場演示：在10 nm空間分辨率下，對聚合物復合材料的化學組分進行納米尺度紅外成像，以及紅外光譜和高光譜測量。

    您將了解到neaspec如何實現：

    ?  無機械外力干擾下和無偽影信號的紅外吸收譜測量

    ?  樣品無損條件下，得到的質數據

    ?  無需實操經驗下即可獲取高質量信號

 [主講人]

Stefan Mastel博士和Sergiu Amarie博士

[報告時間]

2020年10月15日（星期二） 11:00 PM-12:00 PM (CST) 

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