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霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)試流程

閱讀:1448      發(fā)布時(shí)間:2022-12-1
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霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)是一種用于材料科學(xué)、信息科學(xué)與系統(tǒng)科學(xué)領(lǐng)域的儀器,主要用于研究光電材料的電學(xué)特性,可以測(cè)量材料在不同溫度、磁場(chǎng)下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類(lèi)型。
 
測(cè)試流程:
 
1、接通電源,打開(kāi)電腦。
2、調(diào)整儀器,放置準(zhǔn)備好的樣品。
3、抽真空。
4、設(shè)置參數(shù)。
5、加液氮至所需溫度條件。
6、測(cè)量,讀取結(jié)果,保存。
7、斷開(kāi)電源,關(guān)閉電腦。
8、待樣品冷卻至常溫在大氣壓下取樣。
 
霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) L79/HCS可用于半導(dǎo)體組件性能表征,包括:遷移率,電阻率,載流子濃度和霍爾常數(shù)。
 
特點(diǎn):
 
• 載流子濃度
• 電阻率
• 遷移率
• 電導(dǎo)率
• α (水平電阻值/垂直電阻值)
• 霍爾常數(shù)
• 磁致電阻

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