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江蘇天瑞儀器股份有限公司

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采用能量色散X射線熒光光譜技術檢測食品重金屬元素的成功案例

閱讀:840      發布時間:2020-3-3
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X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術,既可用于材料的組成成分分析,又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。X射線熒光光譜(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。

EDX 3200S-PLUS設備采用了能量色散X射線熒光光譜(EDXRF)技術實現食品中微量重金屬有害元素的快速檢測,設備采用了的探測器和激發源等硬件配置。用大功率的X射線照射樣品,樣品可以被激發出各種元素能量的特征熒光X射線,不同元素的特征能量各不相同,通過半導體探測器分別測量不同元素特征能量的X射線的強度,就可以進行定性分析。而樣品受激發后發射的某一元素的特征X射線強度與元素在樣品中的含量有關,因此通過建立元素與含量的數學模型后,就能對元素進行定量分析。

 

EDX 3200S-PLUS可用于稻米、小麥、谷物、煙草等作物中的重金元素鎘(Cd)、鉛(Pb)、汞(Hg)、砷(As)、硒(Se)的快速無損檢測,其檢出限可達0.03ppm。其2-3分鐘能進行快速篩查,測試小于15分鐘對樣品的測量,射線防護優于國標《X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準GBZ115-2002》,有第三方測試機構出具儀器安全性(輻射計量)測試報告。


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