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安泰信AZ530-H高阻抗探頭/頻譜分析儀高頻探頭
主要應用于：
1.ENC電磁兼容測量評估
2.測量個別接點或印制板線路板的射頻干擾
3.可以定量地測量濾波器或其它隔阻性電路
4.產品前期的鑒定測試
產品簡介
詳細介紹
安泰信AZ530-H高阻抗探頭/頻譜分析儀高頻探頭
產品詳細介紹
描述
AZ530高頻探頭系列是探測射頻電磁場的理想工具。在產品發展階段，交于第三方進行測試之前，它是電磁干擾預認證測試的*的工具。該系列產品包括3種探頭，分別是：AZ530-M磁場探頭、AZ530-E電場單極探頭和AZ530-H高阻抗探頭，其中AZ530-E電場單極探頭前置放大器，使其頻率可測范圍從100KHz到超過1000MHz。探頭與頻譜分析儀或射頻接收機的5050Ω輸入阻抗相匹配。其供電可用電池，鎳鎘電池或通過電源線從頻譜儀送來。信號送出是通過1.5米BNC電纜。當與頻譜儀或測量接收機連用時，探頭可以找出或劃定電磁干擾源。同樣可評估電路板和樣機電磁兼容問題。幫助使用者估計發射場以及加屏蔽后的性能比較。也可進行對電纜和組件的機械屏蔽性能和兼容性測試。
技術參數
頻率范圍：0.1MHz-1000MHz（更低的頻率極限取決于探頭）
輸出阻抗：50Ω
輸入電容：2pF（高阻抗探頭）
插座：BNC
zui大輸入電平：±10dBm（依賴頻率范圍）
直流輸入電壓：20Vmax
供電：6VDC，4節AA電池，頻譜儀供電
供電電流：8mA（磁場探頭）
探頭尺寸：195×40×19（L×W×H）㎜
外殼：塑料（內部電屏蔽）
功能介紹
高阻抗探頭（Hi－Z）可以測量個別接點或印制板線路板的射頻干擾（RFI）。它是直接接觸式探頭。它的阻抗很高（接近印制板的絕緣電阻）以及電容僅2pF（1GHz時80Ω）。所以可以接觸上去而不影響電路的（不很大影響）關系。所以可以對線路板上個別點加以測試。例如：可以定量地測量濾波器或其它隔阻性電路。個別的IC腳可認為是射頻干擾之源。通過這個高阻探頭，至電路的測量點，探頭的輸出是低阻抗可聯接至頻譜儀的50Ω輸入端。
AZ530高頻探頭系列是探測射頻電磁場的理想工具。在產品發展階段，交于第三方進行測試之前，它是電磁干擾預認證測試的*的工具。該系列產品包括3種探頭，分別是：AZ530-M磁場探頭、AZ530-E電場單極探頭和AZ530-H高阻抗探頭，其中AZ530-E電場單極探頭前置放大器，使其頻率可測范圍從100KHz到超過1000MHz。探頭與頻譜分析儀或射頻接收機的5050Ω輸入阻抗相匹配。其供電可用電池，鎳鎘電池或通過電源線從頻譜儀送來。信號送出是通過1.5米BNC電纜。當與頻譜儀或測量接收機連用時，探頭可以找出或劃定電磁干擾源。同樣可評估電路板和樣機電磁兼容問題。幫助使用者估計發射場以及加屏蔽后的性能比較。也可進行對電纜和組件的機械屏蔽性能和兼容性測試。
技術參數
頻率范圍：0.1MHz-1000MHz（更低的頻率極限取決于探頭）
輸出阻抗：50Ω
輸入電容：2pF（高阻抗探頭）
插座：BNC
zui大輸入電平：±10dBm（依賴頻率范圍）
直流輸入電壓：20Vmax
供電：6VDC，4節AA電池，頻譜儀供電
供電電流：8mA（磁場探頭）
探頭尺寸：195×40×19（L×W×H）㎜
外殼：塑料（內部電屏蔽）
功能介紹
高阻抗探頭（Hi－Z）可以測量個別接點或印制板線路板的射頻干擾（RFI）。它是直接接觸式探頭。它的阻抗很高（接近印制板的絕緣電阻）以及電容僅2pF（1GHz時80Ω）。所以可以接觸上去而不影響電路的（不很大影響）關系。所以可以對線路板上個別點加以測試。例如：可以定量地測量濾波器或其它隔阻性電路。個別的IC腳可認為是射頻干擾之源。通過這個高阻探頭，至電路的測量點，探頭的輸出是低阻抗可聯接至頻譜儀的50Ω輸入端。