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    當今微電子薄膜，光學薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導薄膜等在工業生產和人類生活中的不斷應用，在工業生產的薄膜，其厚度是一個非常重要的參數，直接關系到該薄膜材料能否正常工作。如大規模集成電路的生產工藝中的各種薄膜，由于電路集成程度的不斷提高，薄膜厚度的任何微小變化，對集成電路的性能都會產生直接的影響。除此之外，薄膜材料的力學性能，透光性能，磁性能，熱導率，表面結構等都與厚度有著密切的。那么薄膜材料的厚度是用什么儀器測試？

薄膜材料的厚度測試儀 電腦式薄膜測厚儀CHY-U

    薄膜材料的厚度測試可以用電腦式薄膜測厚儀CHY-U，該儀器主要用于薄膜、電池隔膜、太陽能電池硅片、紙張、膠帶等硬質和軟質材料厚度精確測量。是一款超高測試誤差的全自動測厚儀，測厚儀被廣泛應用于質檢機構、薄膜生產廠家、光伏廠等單位。該儀器采用微電腦控制、大液晶顯示；手動、自動雙重測量模式，配備專業高精度傳感器，測量頭自動升降，避免了人為因素造成的系統誤差，保證了測試誤差。儀器自動保存zui多100組測試結果，打印zui大值、zui小值、平均值及每次測量結果，方便 用戶分析數據。

    薄膜材料的厚度測試用電腦式薄膜測厚儀CHY-U的技術參數：

    測量范圍           0-2mm （其他量程可定制

    分辨率             0.1um

    測量速度           10次/min（可調）

    測量壓力           17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）

    接觸面積           50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種

    進樣步矩           0 ～ 1300 mm(可調)

    進樣速度           0 ～ 120 mm/s(可調)

    機器尺寸           450mm×340mm×390mm (長寬高)

    重    量             23Kg

    工作溫度             15℃-50℃

    相對濕度             zui高80%,無凝露

    試驗環境             無震動，無電磁干擾

    工作電源             220V 50Hz

    濟南三泉中石實驗儀器有限公司生產的電腦式薄膜測厚儀CHY-U是專門用來檢測薄膜材料的厚度的儀器，本公司還生產薄膜的拉伸強度、撕裂強度、落鏢沖擊強度、熱合強度等物理性檢測儀器，如果您對這些儀器感興趣請致電三泉中石銷售部。