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如何利用XRF鹵素檢測儀器進行定量分析?

閱讀:2775      發(fā)布時間:2021-1-22
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  如何利用XRF鹵素檢測儀器進行定量分析?
  在包含某種元素1的樣品中,照射一次X射線,就會產(chǎn)生元素1的熒光X射線,不過這個時候的熒光X射線的強度會隨著樣品中元素1的含量的變化而改變。元素1的含量多,熒光X射線的強度就會變強。注意到這一點,如果預(yù)先知道已知濃度樣品的熒光X射線強度,就可以推算出樣品中元素1的含量。采用定量分析的時候,可以在樣品中加入高純度的二氧化硅,作為參比樣,并且摻量是已知的。這樣可以間接知道其他組分的含量。
  利用熒光X射線進行定量分析的時候,大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法(經(jīng)驗系數(shù)法)。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品,尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關(guān)系,以其結(jié)果為基礎(chǔ)測定未知樣品取得熒光X射線,從而得到濃度值。
  另一個方法是理論演算的基礎(chǔ)參數(shù)法(FP法)。這個方法在*了解樣品的構(gòu)成和元素種類前提,利用計算的各個熒光X射線強度的理論值,推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數(shù)法。它是基于熒光X射線激發(fā)的基本原理,從理論上使用基本物理參數(shù)計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的?;诖嗽儆嬎鉒achance綜合校正系數(shù),然后使用這些理論α系數(shù)去校正元素間的吸收增強效應(yīng)。它與經(jīng)驗系數(shù)法不同,這些校正系數(shù)是從“理論”上取得的,而非建立在“經(jīng)驗”上。因而它也不需要那么多的標樣,只要少數(shù)標樣來校準儀器因子。

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