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X射線熒光光譜儀,X熒光光譜儀
主要技術參數：
型號：DX-320L
測試對像：粉未、固體、液體
元素分析范圍：鈉（Na）—鈾（U）
含量分析范圍：1PPM—99.99%
測量時間：30—200秒
探測器：電制冷SDD半導體探測器
儀器分辨率：127eV±5
zui低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm CL≤5ppm
Sb/Se/Ba/Pb/As/Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm Pb≤2ppm，CL≤5ppm（八大重金屬）
多道分析器：2048道
輸入電壓：AC 220V±10%，50HZ（建議配穩壓電源）
額定功率：300W（帶電腦）
環境濕度：30%--80%
外型尺寸：660mm×480mm×330mm
測量倉：440mm×350mm×150mm
儀器重量：62公斤
標準配置:
高低壓電源（美國Spellman進口）
大功率X光管（英國Oxford牛津進口）
電制冷半導體探測器（美國AMPTEK進口）
多道分析器（美國進口）
控制電路
高壓單元
移動樣品臺
高清晰CCD
準直器：含Ф8.0mm、Ф6.0mm、Ф2.0mm、Ф1.0mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm各一個
濾光片：5組濾光片
計算機：品牌商務電腦（內存2G、硬盤200G），17寸液晶顯示器
打印機：彩色噴墨打印機
X射線熒光光譜儀,X熒光光譜儀
應用范圍：
針對企業應對歐盟、北美RoHS環保指令精心設計。不但可以測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、銻、硒、砷等重金屬，還能測試無鹵素指令的溴、氯等有害元素及地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析；已在有色金屬、連接器、端子、印刷、玩具、服飾、醫療設備、地礦、電子、電器、五金、PCB、半導體、通信、電鍍、首飾、手表、汽車、鋼鐵、皮革等行業得到廣泛應用。
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