微區掃描電化學工作站快速精準的閉環定位系統為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。結合Uniscan *的混合型32-bit DAC技術，用戶可以選擇合適實驗研究的Z佳配置
掃描電化學顯微系統（SECM）
交流掃描電化學顯微鏡系統（ac-SECM）
間歇接觸掃描電化學顯微鏡系統（ic-SECM）
微區電化學阻抗測試系統(LEIS)
掃描振動點擊測試系統（SVET）
電解液微滴掃描系統（SDS）
交流電解液微滴掃描系統（ac-SDS）
掃描開爾文探針測試系統（SKP）
非觸式微區形貌測試系統（OSP）
出色的性能
快速精準的閉環定位系統為電化學掃描探針納米級研究的需求而特別設計。結合Uniscan *的混合型32-bit DAC技術，用戶可以選擇合適實驗研究的*配置
優良和靈活的工作平臺
系統可提供9種探針技術，使得M470成為zui靈活的電化學掃描灘鎮工作平臺。
全面的附件
7種模塊可選，3種不同電解池，各式探針，長距顯微鏡以及后處理數據分析軟件。
M470新產品特征
SECM自動處理曲線
SECM用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動或自動調節相位
M470同時具備如下特點：
傾斜校正
X或Y曲線相減（5階多項式）
2D或3D快速傅里葉變化
實驗，探針移動和區域繪圖的自動排序
圖形實驗測序引擎（GESE）
支持多區域掃描
所有實驗多個數據視圖
峰值分析
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