JEM-Z200FSC場發射冷凍電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-Z200FSC場發射冷凍電子顯微鏡場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過濾...
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM" 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。...
JEM-Z300FSC場發射冷凍電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-Z300FSC場發射冷凍電子顯微鏡 場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能...
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起，實現了高度穩定性和高分辨率，以精...
JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ARM300F2原子分辨率分析型電子顯微鏡JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的加...
低溫冷凍透射電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-3300CRYO ARM™ 300 II場發射冷凍透射電子顯微鏡CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，...
JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡JEM-Z200MF是一款無磁場物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強磁場的情況下實現高分辨率觀察。結合高次像差校正器，...
XD-1000光譜分析儀 參考價：面議
XD-1000光譜分析儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，可測量納米級厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚，可選配自動平臺實現 XYZ 軸編程位移，實現無人值守多點測量...
XAU熒光光譜分析儀 參考價：面議
XAU熒光光譜分析儀XAU 是一款一機多用型光譜儀，應用了*的 EFP 算法和微光聚集技術，既保留了專用 測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。...
愛丁堡RM5拉曼顯微鏡 參考價：面議
愛丁堡RM5拉曼顯微鏡RM5是一款緊湊的全自動拉曼顯微鏡，用于分析和研究目的。RM5真正的共焦設計在市場上并提供了光譜分辨率，空間分辨率和靈敏度。
愛丁堡RMS1000拉曼顯微鏡 參考價：面議
愛丁堡RMS1000拉曼顯微鏡真正的共聚焦–多位置針孔，可實現高空間分辨率，熒光和背景抑制以及應用優化五位置光柵轉塔–小于0.1 cm-1的光譜分辨率和5 cm...
奧林巴斯OLS5100-LAF激光共焦顯微鏡 參考價：面議
奧林巴斯OLS5100-LAF激光共焦顯微鏡配備10.1 英寸TFT-LCD 大顯示屏，分辨率1024*600；· 電容式觸摸屏，專門為示波器操作定義...
奧林巴斯OLS5100-SAF激光共焦顯微鏡 參考價：面議
奧林巴斯OLS5100-SAF激光共焦顯微鏡適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學性能與智能工具相結合，讓顯微鏡更加方便使用。通...
歐林巴斯OLS5100 3D激光掃描顯微鏡 參考價：面議
歐林巴斯OLS5100 3D激光掃描顯微鏡適用于故障分析和材料工程研究的OLS5100激光顯微鏡將測量精度和光學性能與智能工具相結合，讓顯微鏡更加方便使用。通過...
自動光譜橢偏儀SENDURO 參考價：面議
自動光譜橢偏儀SENDUROSENDURO® 可測量透明和反射基片上單層薄膜和層疊膜的折射率和厚度。SENDURO® 自動掃描則實現了較高的...
安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀 參考價：面議
安科瑞泰SENDIRA紅外光譜橢偏儀橢偏振動光譜利用紅外光譜中分子振動模的吸收帶，可以分析薄膜的組成。此外，載流子濃度可以用傅立葉紅外光譜儀FTIR測量。
安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀 參考價：面議
安科瑞泰SENpro光譜橢偏儀光譜橢偏儀SENpro具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數據進行組合分析等特點。光譜范圍為370到1050 nm。...
安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀 參考價：面議
安科瑞泰SENresearch 4.0光譜橢偏儀SENresearch 4.0 光譜橢偏儀覆蓋寬的光譜范圍，從190 nm（深紫外）到3500 nm（近紅外）。...
布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀 參考價：面議
布魯克S8 TIGER Series 2 X射線熒光光譜儀無論是固體還是液體樣品，在工業環境中都能快速，符合人體工程學的安全處理樣品。
布魯克HD9800工業光學顯微鏡 參考價：面議
布魯克HD9800工業光學顯微鏡HD9800是專門用于硬盤行業磁頭滑塊測量的*的光學輪廓儀，用于對CCT和PTR的高速自動測量，監控其復雜的加工工藝是否正常。
布魯克ContourSP三維工業光學顯微鏡 參考價：面議
布魯克ContourSP三維工業光學顯微鏡ContourSP大面板計量系統擁有十多年的包裝計量專業知識，是上一代SP型號的高密度互連PCB（HDI-PCB）基板...
布魯克Contour Elite X 工業光學顯微鏡 參考價：面議
布魯克Contour Elite X 工業光學顯微鏡大樣本的Contour Elite X 3D光學輪廓儀將的測量功能與業界大視野和高保真彩色或單色成像上的垂直...
布魯克Contour Elite K 3D光學顯微鏡 參考價：面議
布魯克Contour Elite K 3D光學顯微鏡布魯克的Contour Elite K 3D光學顯微鏡為表面計量性能的設計和成本效率設定了新的行業標準。Co...
布魯克InSight CAP自動原子力顯微鏡 參考價：面議
布魯克InSight CAP自動原子力顯微鏡在*技術節點上，利用多圖案光刻技術對CMP提出了納米工藝控制要求，以滿足聚焦深度的需求。InSight CAP圍繞新...
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