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功率半導體參數測試系統 參考價：面議
LET-SP802功率半導體參數測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。LET-SP802...
半導體動態參數測試系統 參考價：面議
半導體動態參數測試系統硬件優勢:1. 采用先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決S...
半導體靜態參數測試系統 參考價：面議
LET-5000半導體靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。
多通道絕緣電阻測試設備儀器 參考價：面議
多通道絕緣電阻測試設備儀器又稱數字絕緣電阻測試儀、兆歐表、智能絕緣電阻測試儀等，適于在各種電氣設備的保養、維修、試驗及檢定中作絕緣測試。絕緣電阻測試儀適于在各種...
IGCT自動測試系統 參考價：面議
IGCT自動測試系統核心是安規及導通性能測試的訂制化標準測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內阻測試儀、安規測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機柜...
第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統 參考價：面議
KC-3105 第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一標準，便于后期擴展和維護...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室) 參考價：面議
KC3110功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。本系統可以在...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(生產端) 參考價：面議
KC3111功率半導體高精度靜態特性測試系統（生產端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。脈沖信號源輸...
功率半導體動態參數測試系統 參考價：面議
KC3120功率半導體動態參數測試系統可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各項動態參數測試，如開通時間、關斷時間...
JXA-iSP100電子探針顯微分析儀 參考價：面議
JXA-iSP100電子探針顯微分析儀JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析...
JXA-iHP200F場發射電子探針顯微分析儀 參考價：面議
JXA-iHP200F場發射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進...
JSM-IT210掃描電子顯微鏡 參考價：面議
JSM-IT210掃描電子顯微鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM"，只需選好微...
JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡 參考價：面議
JSM-IT510InTouchScope掃描電子顯微鏡JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發射電...
日本電子JSM-IT800熱場發射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JSM-IT800熱場發射掃描電子顯微鏡JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發射電子槍、新...
日本電子JSM-IT210掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JSM-IT210掃描電子顯微鏡JSM-IT210是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simp...
日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JSM-IT710HR掃描電子顯微鏡 JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕松拍攝高分辨率圖像的SEM" 為理念而推出的HR*系列的第四代...
日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JSM-IT810掃描電子顯微鏡JSM-IT810系列FE-SEM結合多功能性和高空間分辨率，實現了自動化操作。內置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能...
日本電子JEM-120i透射電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JEM-120i透射電子顯微鏡120kV透射電鏡多用于生物、高分子等軟材料領域。這次開發的新型電子顯微鏡JEM-120i以“緊湊的"，“易于使用的"和“...
日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JEM-2100Plus透射電子顯微鏡EM-2100Plus電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了最新的控制系統，大幅提高...
日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡 參考價：面議
日本電子JEM-F200透射電子顯微鏡以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統...
JEM-Z200FSC場發射冷凍電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-Z200FSC場發射冷凍電子顯微鏡場發射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過濾...
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ARM200FNEOARM透射電子顯微鏡NEOARM" 標配了日本電子獨自開發的冷場發射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。...
JEM-Z300FSC場發射冷凍電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-Z300FSC場發射冷凍電子顯微鏡 場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能...
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡 參考價：面議
JEM-ACE200F高效分析型電子顯微鏡JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術整合在一起，實現了高度穩定性和高分辨率，以精...
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