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    華測閉孔溫度破孔溫度測試儀 上市

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    北京華測四探針測試儀產品簡介

    閱讀:1094        發布時間:2017/6/1
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                       北京華測四探針測試儀產品簡介

                                                               型號:HC-ST31

    產品簡介:

    采用由四端測量方法測試電阻率系統與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具,滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求,通過測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線,是檢驗和分析材料質量的一種重要的工具。

    公司主營產品——幾大系列:
    介電擊穿強度試驗儀(電壓擊穿試驗儀)、表面體積電阻率測試儀(高阻計)、電痕化指數試驗儀(漏電起痕試驗儀)、耐電弧試驗儀、沖擊電壓試驗儀、沖擊電流試驗儀、耐電壓試驗儀、高壓電容電橋、高頻Q表、安規綜合測試儀、泄漏電流測試儀、靜電計、飛安表、高阻高壓表、電荷量表、多功能精密傳感器分析測試儀等近30種產品。


     

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