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北京華測高溫四探針測試儀上市啦

閱讀:1211        發(fā)布時間:2017/10/25
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北京華測高溫四探針測試儀上市啦


北京華測試驗儀器有限公司高溫四探針測試儀上市啦!華測儀器全心全意為客戶提供各種的服務,以高素質(zhì)的服務隊伍,對客戶實施的照顧,成為儀器行業(yè)服務的表率,為儀器發(fā)展作出貢獻。

●Huace-600高溫四探針測量系統(tǒng),該系統(tǒng)可以測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻 以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻,該設備按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準而設計的。

●采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱為一體的的高溫測試系統(tǒng),滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的 測量要求,通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測量導電材料電阻和電阻率,可以分析被測樣的電阻和電阻率隨溫度、 時間變化的曲 線. 目前主要針對圓片、方塊、長條等樣品進行測試,可以廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化物系導電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。 過測控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導率數(shù)據(jù)的變化曲 線。


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