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介電常數測試儀微波
閱讀：4517發布時間：2014-12-24
介電常數測試儀 應用：高速數字/微波回路的各種材料；新材料；半導體材料；薄膜材料。
【正確把握材料的電學性能，在新材料，以及新產品的開發得到zui大限度的利用】
利用創新的開發理念，實現了低成本開發。
計量技術的重大突破
率的設備和系統應用在現代寬帶通信技術中成功發展的關鍵是了解材料的電學性質。在過去，微波知識的掌握和昂貴設備的使用經驗對傳統介質的測量是必要的。而AET公司開發的微波介電常數測定儀不需要昂貴的設備，它能夠快速無損的測量各種形狀的材料，包括薄膜電介質材料，通過一個開放型同軸共振器的消逝模式進行測量。內置的反饋電路可以使得測量更準確，振蕩器的操作更簡單。精度是通過結合高Q腔，高度的測量算法和三維電磁仿真軟件得到保證。
*MW STUDIO: 是CST GmbH提供的三維電磁場仿真軟件。
不用必須使用微波發生器
AET的微波介電常數測試儀有兩種型號的，分別是合成掃描振蕩器型（可以代替微波發生器），和微波發生器型。合成掃描振蕩器型包括一個振蕩器（振蕩器中有一個微波信號發生裝置和一個檢測器），一個測量探測器，一套定制的軟件和一些附件。這款機器造價很低主要是由于他不用很昂貴的測量器件。另一種的微波發生型提供了微波發生裝置可供使用。它也包括一個測量探測器，一套定制的軟件和一些附件。
快捷簡便的測量：
AET的微波介電常數測定儀zui大的優勢是其使用簡便，只需要簡單的把樣品放置在測量探測器上即可完成測試。*的探測器的倏逝場可以很快，并且對許多形狀材料進行無損測量。ε的隨機誤差小于1%，tanδ的隨機誤差小于5%。精度通過兩種不同參比材料的校準來確定。通過計算參比物質和樣品材料的相對誤差，消除外部誤差源（如室溫，濕度，震動等）
*&理想的測量探測器
AET的微波介電常數測定儀擁有一個*的測試探測器叫做“同軸共振器"。測量可以選擇五點同時測量模式或者單個頻率測量模式。一個樣品材料放置在探測器上，一個倏逝電場從探測儀頂端滲入到樣品材料中。這個電場隨著材料的介電性質而改變，依次改變共振頻率和整個腔體的Q值。而后介電性質可以通過共振的變化被計算出來。高精度的測量計算程序來計算復雜的介電常數，利用電磁場分布和倏逝模式共振的特性，通過“3D EM-field"模擬器“MW studio"來計算。
介電常數計量服務：
時至今日，介電特性的測量一直是基于微擾理論的近似計算。AET公司的介電常數計量服務是將一個高Q腔和3D電磁場模擬技術運用到測量介電特性的過程中。介電常數計量服務可以使我們地測量出樣品的相關介電特性值。
我們根據樣品材料的大小以及形狀選擇的測量方法，而后提供了幾乎所有樣品材料的測量方法，包括固體，片材，薄膜樣品，多層電路板，顆粒以及液體。
應用：
基體材料的高速數字/微波電路；低損耗介質用于過濾和介質天線；薄膜材料和新材料；半導體材料；醫療電子；化學制品；食品（水分含量）；人體組織；氣體；液體。
提供材料的信息，比如：質量，大小和形狀，粗糙度
技術參數：
（一） 同軸共振器型介電常數測定儀：（可以對所有形狀的樣品進行測試）
1. 頻率：0.8~18GHz
2. 頻率點：可以選擇五個離散的頻率點或者一個點
3. 測量范圍：ε：1-15 tanδ：0.001~0.1
4. 測量精度：ε：±1% tanδ：±5%
5. 樣品形狀：形狀可以任意只要有平滑的表面即可（但是，平滑表面面積要在10mm×10mm以上，厚度在0.5mm以上）。
（二）共振腔型介電常數測定儀：（測定薄膜和多層印刷電路板）
1. 頻率：1~18GHz
2. 頻率點：每一次共振一個點
3. 測量范圍：ε：1-30 tanδ：0.0001~0.1
4. 測量精度：ε：±1% tanδ：±5%
5. 樣品形狀：條狀、圓棒狀、方桿、薄膜
主要特點：
（一） 同軸共振器型介電常數測定儀：（可以對所有形狀的樣品進行測試）
特點：
1. 一個開放型同軸共振器用倏逝模式的波進行測定：倏逝波
一個樣品材料放在探測儀上，一個倏逝電場從探測儀頂端滲入到樣品材料中。這個電場隨著材料的介電性質而改變，依次改變共振頻率和整個腔體的Q值。而后介電性質可以通過共振的變化被計算出來。
2．簡單、準確，無破壞性的測定：
一個開放型的共振器可以簡單的進行樣品放置，快捷準確的對其介電性質進行測量。
3．穩定的測定：
可以通過真空附件提供樣品與探測器的緊密連接。
（二）共振腔型介電常數測定儀：（測定薄膜和多層印刷電路板）
特點：
1. 通過共振腔進行測量
把樣品添加入共振腔中，電場隨著樣品材料的介電性質而改變，依次改變共振頻率和整個腔體的Q值。而后介電性質可以通過改變的共振被計算出來。
2. 簡單快捷的測量
在樣品插入共振腔在很短的時間內，介電常數就可以測出來。
標簽：介電常數測試儀 介電常數介質損耗測試儀 介質損耗因數測試儀
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