超高真空微型光柵尺SMG26 參考價(jià)：面議
體積小、結(jié)構(gòu)緊湊超高真空微型光柵尺SMG26特點(diǎn)，體積小，結(jié)構(gòu)緊湊，適用于超高真空使用，良好的耐高溫性，最高可達(dá)100℃，SMG26系列光柵的柵距為256μm，...
真空組件及配件 參考價(jià)：面議
真空組件及配件，各種類型都有，可定制真空饋通，本頁(yè)面未找到您需要的產(chǎn)品請(qǐng)聯(lián)系客服。
線性壓電納米位移臺(tái)ML-37A 參考價(jià)：面議
線性壓電納米位移臺(tái)ML-37A，大行程直線位移臺(tái)，不僅擁有緊湊的安裝尺寸，同時(shí)還兼具低溫真空等應(yīng)用環(huán)境，是小空間內(nèi)大行程高精度的定位的優(yōu)先選擇產(chǎn)品。支持定制納米...
多種旋轉(zhuǎn)位移臺(tái) 參考價(jià)：面議
多種旋轉(zhuǎn)位移臺(tái)可實(shí)現(xiàn)高精度及高分辨率的開(kāi)環(huán)/閉環(huán)控制，適用于大氣及真空環(huán)境下工作。
隧道顯微鏡 參考價(jià)：面議
掃描隧道顯微鏡STM（Ultrascan LT-100），掃描探針顯微鏡（STM）為代表的超高真空設(shè)備廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究中，主要進(jìn)行對(duì)表面有關(guān)或者在表面發(fā)生的所...
二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng)，可用于機(jī)械解理的各種二維材料的轉(zhuǎn)移及二維材料范德華異質(zhì)結(jié)的堆疊，尤其適用于二維材料的精準(zhǔn)轉(zhuǎn)角調(diào)控。
半自動(dòng)、全自動(dòng)臺(tái)階儀 參考價(jià)：面議
半自動(dòng)、全自動(dòng)臺(tái)階儀。JS100B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可無(wú)畸變的觀察樣品區(qū)，方便定位特征區(qū)域，同時(shí)探針掃描時(shí)可實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域。JS2000...
手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B 參考價(jià)：面議
國(guó)產(chǎn)手動(dòng)臺(tái)階儀 JS10B，穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量，采用金剛石探針，無(wú)畸變的觀察樣品區(qū)，實(shí)時(shí)觀察掃描區(qū)域，突破三個(gè)核心技術(shù)，國(guó)內(nèi)研發(fā)生產(chǎn)，便于售后服務(wù)。【支持定制...
原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實(shí)現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測(cè)量。
原位解決方案-低溫電學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-低溫電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測(cè)量的目的。
原位解決方案-光電性質(zhì)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-光電性質(zhì)測(cè)試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實(shí)現(xiàn)光電測(cè)量或者CL測(cè)量。
原位MEMS-TEM-STM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位MEMS-TEM-STM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境...
原位解決方案-高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時(shí)集成了力學(xué)測(cè)量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對(duì)樣品1000℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測(cè)量。實(shí)現(xiàn)了...
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)（T-station）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。
原位TEM品桿 參考價(jià)：面議
原位TEM品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測(cè)樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對(duì)樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 參考價(jià)：面議
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對(duì)材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
原位MEMS加熱電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位MEMS加熱電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測(cè)條件。
原位STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納...
原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
TEM原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
TEM原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng) PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，同時(shí)集成了力學(xué)測(cè)量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對(duì)樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量...
原位MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
MEMS-STM-TEMPicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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