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WKL-702 顆粒圖像分析儀
  • WKL-702 顆粒圖像分析儀
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-03-06 10:49:02

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WKL-702顆粒圖像分析儀產品特點將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成

WKL-702 顆粒圖像分析儀

產品特點

    將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理,具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

1、圖像多種處理方法:影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數,以線性或非線性統計方式繪出分布圖。


技術參數

儀器型號

WKL-702

測量范圍

0.13000(微米)

總放大倍數

8000

分辨率

0.1微米/像素

重復性

誤差≤±1

自動分割速度

1

數字攝像機(CCD)

500萬像素

數據儲存

電腦需另配(i5+8G內存+純固態硬盤或雙硬盤以上配置)

通信接口

USB

操作系統

Windows 98/XP/7/8/10/11系統均可

電源

AC220V ±10%,50 Hz 200 W

儀器尺寸

270mm×410mm×440mm

儀器凈重

15kg


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