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基于高性能紅外顯微鏡AIM-9000的電子產品異物分析

閱讀:1480        發布時間:2016-11-3

 紅外顯微鏡是將紅外光路引入到顯微鏡中,光學顯微鏡觀察微小樣品,調節可變光闌的大小,選擇測試樣品中的某一微區,紅外光聚焦后,進行紅外分析。顯微紅外法在微量樣品的紅外光譜測試中發揮著越來越大的作用。異物分析技術通常應用于生產出來的產品有一些斑點狀附著物、油狀物、粉狀物等異常缺陷或表面污染,此時需要分析異物屬性,進而尋找污染源或環節,進行排查,以改善配方體系,提高產品質量。在電子電氣行業,生產工藝流程復雜,過程中使用的物料眾多,操作流水線上的稍微疏漏,都會導致產品中出現不明異物。這不僅影響產品外觀,影響產品質量,甚至會導致生產停滯,給企業帶來不可估量的經濟損失。由于異物樣品較小,顯紅外微法在微小異物分析中的顯著優勢得以體現。

 

島津紅外顯微鏡 AIM-9000,可視圖像 330 倍放大,可以實現zui小視野 30*40 μm 的觀測范圍,大范圍廣角相機快速尋找異物點,自動對焦,定位待測點,測量的同時觀測測量位置,確保異物點測量位置零偏移。本文使用 AIM-9000 分析了手機鏡頭組件中的異物。

 

島津公司新發布紅外顯微鏡 AIM-9000

 

了解詳情,敬請點擊《紅外顯微鏡法在電子產品異物分析中的應用》

 

 

 

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