當前位置:> 供求商機> 掃描探針顯微鏡-德國 Panco 公司電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡
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描電導率-塞貝克系數顯微鏡可以測量樣品的電導率和塞貝克系數的空間分布狀況,是研究熱電材料的利器。
主要技術參數 位置單向定位精度: 1 μm位置雙向定位精度: 3 μm zui大掃描區域: 150 mm × 50 mm 局部測量精度: 10 μm (與該區域的熱傳導有關) 信號測量精度: 100 nV 測量結果重復性: 優于3% 電導率-塞貝克系數掃描探針顯微鏡技術由德國 Panco 公司和德國宇航中心公共研制開發,點擊資料下載按鈕下載說明手冊。 | ||||
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