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目錄:北京精科智創科技發展有限公司>>光電學測試系統>> 機電薄膜e31測試儀 aix4PB

機電薄膜e31測試儀 aix4PB
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更新時間:2025-04-21 10:52:08瀏覽次數:1059評價

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應用領域 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣
機電薄膜e31測試儀 aix4PB
(Electromechanical thin film e31 analyzer )

薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關鍵性能,縱向壓電系數d33和橫向壓電系數e31被用于表征傳感器和執行器的這些關鍵性能。
縱向壓電系數可由aixDBLI測試,而橫向壓電系數e31就可用aix4PB系統測試。
通過必要夾具,可以測得正向e31和逆向e31。

機電薄膜e31測試儀 aix4PB
(Electromechanical thin film e31 analyzer )

薄膜材料的機電性能是MEMS器件設計的關鍵性能,縱向壓電系數d33和橫向壓電系數e31被用于表征傳感器和執行器的這些關鍵性能。
縱向壓電系數可由aixDBLI測試,而橫向壓電系數e31就可用aix4PB系統測試。
通過必要夾具,可以測得正向e31和逆向e31


E31.png


標準的aix4PB系統主要由以下部分組成:四點彎曲樣品夾具、TF Analyzer 2000、單光束激光測振儀。
可以進行如下測試功能:
全部鐵電性能表征,基于TF2000系統,包括極化、電容、漏電流、疲勞測試。
有效橫向壓電系數的測量通過交替均勻機械力施加于樣品,并測試的電荷。
所有的測量數據也可以在附加的壓縮或拉伸靜態負載下進行,這也覆蓋了整個壓電薄膜在整個MEMS器件中的行程。

特點/規格:
四點彎曲樣品夾具:
產生力的壓電執行器
激光測振儀夾具
很容易接觸到頂部和底部的樣品電極
所有的TF2000系統的測試功能 
遠程接入和腳本控制的可選件
單光束激光干涉儀,最小分辨率1nm

軟件:
Windows 7 操作系統
通過GPIB或以太網的遠程接入和腳本控制
通過ODBC接口的數據庫連接
測試數據通過ASCII形式輸出
測試數據交換通過aixPlorer軟件或Resonance Analyzer



 


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