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詳細摘要： 二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學系統以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時，SE圖像可達7nm,5KV電壓時，BSE圖像可達10nm。最新開發的自動多級電子槍偏壓機構能夠在不降低電子束大小的情況下，在一定范圍內的常用加速電壓下增加發射電流。因此，此款產品與S-3400N相比，噪音得以大幅減少，成像更加清晰。

詳細摘要： 二手日立電鏡SU-3500日立高新高畫質的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質量更進一步。通過高畫質提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立*進科技“。日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實現了3kV加速電壓7nm分辨率"的全新電子光學系統, 可實現實時立體成像的“實時立體觀察功能 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器。

詳細摘要： 二手日本電子JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，Live Analysis*²可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報告等，使它成為一個分析業務的軟件。

詳細摘要： 二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經過改進照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀察高質量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質量有了顯著的提高。

詳細摘要： 二手蔡司場發射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場發射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發射電鏡適用于材料領域、失效分析、過程控制，納米技術等。

詳細摘要： 二手電鏡二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發射出的電流激發到樣品表面產生二次電子，通過信號收集和信號轉換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現對樣品表面的形貌的觀察。

詳細摘要： 二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產品均可滿足工業工藝控制實驗室、材料科學實驗室和生命科學實驗室的多種樣本和成像要求。

詳細摘要： 二手電鏡 二手日本電子JSM-IT300日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛性外觀設計還特別吸引眼球。

詳細摘要： 二手日立噴金儀掃描電子顯微鏡 (sem) 是一種多功能的工具，在大部分時候，無需什么樣品制備，即可提供各種樣品的納米級信息。而在某些情況下，為了獲得更好的sem圖像，會推薦或甚至有必要結合噴金儀（離子濺射儀）使用sem。在這篇博客中，我們將解釋噴金儀是如何工作的，以及適用的樣品類

詳細摘要： 供應日立（二手）場發射掃描電鏡SEM 430型號掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場發射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實現高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測。配備兩種物鏡模式（浸沒式和無場式）。配備紅外CCD檢測相機，極靴內二次電子檢測器，通用ET二次電子檢測器，低真空二次電子檢測

詳細摘要： （2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

詳細摘要： 二手鎢燈絲電鏡，二手SEM；掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數：5×～1000000×，連續可調 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94

詳細摘要： 日立二手電鏡SEM+EDX掃描電子顯微鏡詳細信息該設備具有新研制的電子光學系統和自動化功能顯示系統有全屏顯示，無閃爍，高像素和實時圖像顯示等優異的性能，它還可以實時信號混合并同時顯示兩個不同的檢測器觀測到的互不相同的樣品信息。

詳細摘要： 二手高分辨率場發射電鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。

詳細摘要： 二手場發射顯微鏡SEM場發射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。具有高性能x射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面元素的定性、半定量及定量分分析，具有形貌、化學組分綜合分析能力。

詳細摘要： 二手場發射電鏡，二手SEM場發射掃描電鏡通用性強，可廣泛應用于納米材料、金屬材料、半導體材料、化學化工、醫學及生物學領域，可高效觀察包括非導體樣品及強磁性樣品等。

詳細摘要： 二手日立場發射電鏡：貨供應二手掃描電鏡,二手場發射電鏡,二手透射電鏡S-9300，S-9380，S-806C，H-7100，S-4700，S-4200，S-4160，S-3000N，S-2700，S-2400，TM-1000；臺式，桌面式Hitachi FE-SEM Field Emission Scanning Electron Microscope

詳細摘要： 二手電鏡，二手場發射電鏡它*進的特點和性能可以快速又簡便地適應各種應用。通用的Windows界面通過顯示器上顯示的菜單和圖標允許進行交互式的操作。應用在材料，結構，表面形貌分析：

詳細摘要： 二手場發射電鏡，二手電鏡：場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎上，低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感樣品表面超微形貌結構信息。 具有高性能x射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區點線面

詳細摘要： 日立SEM二手S-4300掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內透鏡設計，卻能達到分辨率，可以與內透鏡UHR掃描電鏡相媲美。