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TRIMOS/瑞士
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Fraunhofer IZFP/德國弗勞恩霍夫
Wyler/瑞士
OGP/美國
GE/美國
2025-6-6 閱讀(140)
高頻探頭:頻率越高,超聲波波長越短,理論分辨率越高(可檢測更薄硬化層),但穿透能力下降,適用于表面光滑、硬化層較淺(如 2~5 mm)的工件。
低頻探頭:穿透能力強,適合厚硬化層或材料衰減較大的場景(如鑄件),但分辨率較低,可能導致界面定位誤差。
探頭適配性:非平面工件(如齒輪齒面、軸類曲面)需定制楔塊調整聲波入射角度,楔塊設計不合理會導致聲束偏離界面,造成測量偏差。
系統通過 4 通道并行采集信號并自動切換檢測點位,若算法未能有效過濾環境噪聲(如電磁干擾)或校準通道間靈敏度差異,可能引入系統性誤差。
信號分析模型(如衰減曲線擬合算法)的準確性直接影響硬化層界面識別精度,不同材料需匹配特定算法參數。
檢測原理依賴硬化層與非硬化層的超聲波散射特性差異。若兩者聲學性能接近(如硬度梯度平緩、顯微組織差異小),后向散射信號強度變化不顯著,可能導致界面誤判。
典型案例:馬氏體硬化層與鐵素體基體的聲阻抗差異明顯,檢測精度較高;而滲碳層與基體若存在過渡區,可能影響信號突變點識別。
粗大晶粒:如鑄件或未經細化處理的材料,會顯著增加超聲波散射,導致信號信噪比下降,甚至掩蓋硬化層界面信號。
內部缺陷:氣孔、裂紋等缺陷會干擾聲波傳播路徑,造成異常散射信號,誤判為硬化層邊界。
系統適用范圍為 SHD>1.5 mm,當硬化層過薄(接近 1 mm)時,超聲波在層內的多次反射與散射信號疊加,難以區分真實界面,精度顯著下降。
表面硬度高(如>60 HRC)的材料可能改變聲波傳播速度,若設備未校準聲速參數,會導致深度計算誤差(公式:深度 = 聲速 × 傳播時間 / 2)。
表面粗糙度:粗糙表面(如 Ra>3.2 μm)會增加超聲波耦合損耗,導致信號強度衰減,甚至無法有效激發后向散射信號。
耦合劑選擇:耦合劑(如機油、甘油)的粘度與填充能力影響聲能傳遞,若涂抹不均勻或類型不匹配(如高溫工件使用易揮發耦合劑),會造成檢測結果波動。
溫度影響:工件溫度過高(如剛淬火后未全冷卻)會改變材料聲速,且可能導致探頭橡膠部件老化,建議在室溫(20±5℃)下檢測。
電磁干擾:靠近強電磁場(如電機、高頻加熱設備)可能干擾數據采集電路,導致信號失真。
檢測點位規劃:未按工藝要求選擇檢測區域(如避開倒角、邊緣應力集中區),可能因局部硬化層不均勻導致結果偏差。
探頭壓力控制:手持檢測時若施加壓力不均勻,會改變耦合層厚度,影響聲波入射角度,建議使用帶有壓力反饋的支架輔助操作。
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