S1000 校準圖形放大倍率標準樣品-光學計量器具：

S1000 校準圖形放大倍率標準樣品-光學計量器具：

           S1000微米一亞微米級系列標樣，總體為5mm×5mm0.5mm(長×寬×厚)大小的小方塊。用于掃描電鏡（包括電子探針等）儀器主要性能的校驗和檢驗，如圖像的放大倍率檢驗與調整、掃描圖像畸變的調整、像散調節以及樣品臺的復位檢驗等，是掃描電鏡儀器驗收、儀器年度檢驗、計量認證、實驗室認可等考核中，*的標準樣品。

 > >  特點：

           1、擁有現代的加工工藝，研制技術本身具有足夠的精度等保證其質量
           2、底層鍍有純鈦層，表面有120nm厚的Au膜，可稱之為擁有特厚金層，不僅可長
期穩定保存，而且具有極其良好的導電性
           3、具有格柵狀雙向結構，與早期使用的初級銅網結構相似，   是國內外可以同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡、電子探針的圖像的放大倍率進行檢查或校正的標樣
           4、有德國PTB計量型原子力顯微鏡的測量研究報告和研制者的研制報告正式發布(見“掃描電鏡測長問題的討論”一書)，即采用目前精度好、可溯源的檢測方法，有可靠的文獻依據
           5、S1000曾經過我國國家計量研究院的多次檢驗測試，并多次獲得合格證書；
           6、S1000早在2005年通過國家微束標委會的有關專家評審通過，具備報批國家標準樣品的資格，并且已經過眾多用戶近十年的使用，證明其質量優良
           7、公開出版的“掃描電鏡測長問題的討論”專著實際上是一本S1000的綜合性的研制報告；
           8、價格低廉，易于保存、易于普及到每個掃描電鏡和電子探針實驗室
           9、功能多，用途多
           (1)可用于同時對任意兩個垂直方向上的掃描電鏡的圖像的放大倍率進行檢查或校正，是校準從10×~100.000×及以上范圍的圖像放大倍率的有效的圖形標準樣品：是執行GB/T27788“微束分析一掃描電鏡一圖像放大倍率校準導則”一個精zhun的校準標樣
           (2)可直接用于同一量級物體，毫米量級到納米量級長度的精Q比對測量，是執行GB/T16594和GB/T20307微米和納米測量的一個不能缺少的精zhun的度量工具
           (3)可用于對圖像的X、Y方向上的畸變和邊緣的畸變進行校驗，是評價掃描電鏡圖像質量的一個重要工具
           (4)對樣品臺傾斜角和電子傾斜以及旋轉調整功能的檢驗也有較好的作用

           (5)利用標樣上的“點子”圖像，可對電子束作漂移檢驗和樣品臺復位檢驗