2023年7月11日-13日，亞洲激光、光學、光電行業的年度盛典——慕尼黑上海光博會在國家會展中心(上海)隆重舉辦。隨著國內經濟的強力復蘇，上海慕尼黑光博會強勢回歸，展覽面積再創新高，總面積達80000平方米，展出面積較上一屆增長26%，吸引了全球1100余家光電行業企業入駐，為80000名海內外觀眾搭建了一個高效、創新、優質的溝通平臺。

本屆展會，冠乾科技（上海）有限公司亮相6號館1F120，冠乾科技Grant Technology一直以來追求優秀品質的產品、專業的應用和完善的售后服務。這次展會，也吸引眾多游客駐足來了解。

展會現場

水平式激光干涉儀

   水平式激光干涉儀，是一種使用動態分析方法的斐索型激光干涉儀。該干涉儀具備良好的抗振性能，可以在有空氣擾動，輕微振動的環境下檢測。這使得該干涉儀在傳統相移技術無法進行測試的環境中，仍能提供精密可靠的計量檢測，這種具有可模塊化組合和低成本等特點的無損檢檢測干涉儀是工業加工現場檢測需求的新方向。

平面平晶檢測干涉儀

       平面平晶檢測干涉儀采用組合式激光干涉儀作為核心部件，包括光源、主機、成像以及鏡頭和相移等四大模塊。

采用更加簡便操作的俯式測量，突破了一等平面平晶限制，且其采樣點可達上百萬像素，能客觀反映被測平面全貌。而且應用廣泛：比如計量領域平面平晶檢測，半導體工業晶片檢測，光學加工窗口玻璃檢測等， 具有廣闊的市場前景。

紅外原子力顯微鏡

       Dimension IconIR是一款集合了納米級紅外光譜（nanoIR）技術和掃描探針顯微鏡（SPM）技術的系統。它整合了數十年的技術創新和研究成果，可以在單一平臺上提供納米級紅外光譜、物理和化學性能表征。該系統具有超高的單分子層靈敏度和化學成像分辨率，在保留Dimension Icon ® 最佳的AFM測量能力的同時，還提供了極大的樣品尺寸靈活性。

傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀

   INVENIO 是布魯克推出的研究級傅立葉變換紅外（FTIR）光譜儀的入門級產品。INVENIO 產品的創新技術及其智能精巧的設計為新一代傅立葉變換紅外光譜儀樹立了 標準。新的光路設計將帶來優異的信噪比、較寬的光譜范圍（覆蓋從遠紅外至紫外/可見光譜區）和高的靈活性，適用于各種復雜的實驗配置。可選的集成平板電腦觸控界面讓 您擁有簡單的工作流程和舒適的操作體驗。 布魯克的MultiTect™ 檢測器技術支持多達5個全自動室溫檢測器。結合獨立的 DigiTect™ 檢測器位與支持快速 MIR 測量的 Transit™ 通道，INVENIO 內部可配備多達 7個自動檢測器，讓您的日常工作變得更加舒心。

X射線衍射儀

  D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
  高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，布魯克AXS公司提供全球保證！
  先進的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

  冠乾科技(上海)有限公司，是專為用戶提供先進可靠的設備及儀器技術的平臺。我們致力于為客戶更精準地把握工藝過程,得到精確的檢測結果而服務。縮短您等待，重復實驗，和供應商爭論的時間，避免帶來的重大損失。