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TC WAFER 晶圓測溫系統
閱讀：75 發布時間：2024-4-24
高低溫探針臺 TC WAFER 晶圓測溫系統
探針臺是一種精密的電子測試設備，主要用于半導體行業、光電行業、集成電路以及封裝的測試。 探針臺的主要功能是進行精密電氣測量，以確保產品質量和可靠性，同時也能縮減研發時間和降低制造工藝的成本。它主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節，負責晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試，實現更加精確的數據測試測量。
探針臺通常包括載物臺、光學元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等部分， 此外，探針臺也用于網絡測量的工具，可以測量網絡的延遲時間、吞吐量和丟包率等指標，從而評估網絡的性能和可靠性。
TC-WAFER晶圓測溫系統應用于高低溫晶圓探針臺，測量精度可達mk級別，可以多區測量晶圓特定位置的溫度真實值，也可以精準描繪晶圓整體的溫度分布情況，還可以監控半導體設備控溫過程中晶圓發生的溫度變化，了解升溫、降溫以及恒溫過程中設備的有效性。
智測電子還提供整個實驗室過程的有線溫度計量，保證溫度傳感器的長期測量精度。
合肥智測電子致力于高精度溫測、溫控設備的生產和研發定制，為半導體設備提供可靠的國產解決方案