實(shí)驗(yàn)名稱：基于單端接觸原理的LED外延片無損檢測(cè)

　　實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：基于單注入模式，使用新型檢測(cè)系統(tǒng)獲取LED外延片的電學(xué)參數(shù)與光學(xué)參數(shù)。

　　研究方向：LED外延片檢測(cè)

　　測(cè)試設(shè)備：光譜儀、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、ATA-2161高壓放大器、顯微鏡及成像系統(tǒng)、示波器、電腦等。

　　實(shí)驗(yàn)過程：

　　圖1：實(shí)驗(yàn)裝置原理圖

　　首先對(duì)LED外延片進(jìn)行光致發(fā)光（PL）測(cè)試，通過光譜儀獲取峰值波長。然后，將測(cè)試設(shè)備按圖1所示連接完畢后，將待測(cè)LED外延片放置在ITO玻璃上，緩慢下降探針，直至LED外延片產(chǎn)生電致發(fā)光現(xiàn)象。通過光譜儀獲取峰值波長，示波器獲取電學(xué)參數(shù)。最后，使用傳統(tǒng)的電致發(fā)光（針測(cè)）對(duì)LED外延片進(jìn)行測(cè)試。在保證光譜儀軟件顯示的相對(duì)強(qiáng)度在一致或接近時(shí)，獲取LED外延片的電學(xué)參數(shù)和光學(xué)參數(shù)。

　　實(shí)驗(yàn)結(jié)果：

　　圖2：SC-EL所獲得的光學(xué)參數(shù)與針測(cè)所獲得的光學(xué)參數(shù)

　　圖3：SC-EL所獲得的光學(xué)參數(shù)與針測(cè)所獲得的光學(xué)參數(shù)

　　由于針測(cè)獲得的數(shù)據(jù)具有可靠性，因此將其作為標(biāo)準(zhǔn)值來比較PL測(cè)試與單端接觸電致發(fā)光（SC-EL）測(cè)試所獲得數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，SC-EL所獲得的光學(xué)參數(shù)與針測(cè)所獲得的光學(xué)參數(shù)更加接近并且不會(huì)對(duì)LED外延片造成機(jī)械性損傷（如圖2、圖3所示）。此外，SC-EL所獲取的電學(xué)參數(shù)與針測(cè)所獲取的電學(xué)參數(shù)（反向漏電流）具有同樣的趨勢(shì)，可以反映針測(cè)所獲取數(shù)據(jù)的水平（如圖4所示）。

　　圖4：針測(cè)所獲取數(shù)據(jù)的水平

　　高壓放大器推薦：ATA-2161

　　圖：ATA-2161高壓放大器指標(biāo)參數(shù)

　　本資料由Aigtek安泰電子整理發(fā)布，更多案例及產(chǎn)品詳情請(qǐng)持續(xù)關(guān)注我們。西安安泰電子Aigtek已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線，且具有相當(dāng)規(guī)模的儀器設(shè)備供應(yīng)商，樣機(jī)都支持免費(fèi)試用。