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低頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統
閱讀：698 發布時間：2022-3-21
HJAS2875A低頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統
低頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由=測試裝置（夾具）、介電常數測試主機、組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。
主要參數：
工作頻率范圍：1KHz～200kHz精度：±0.01%
電容測量范圍：0.0001pF～99.99mF五位數顯
電容測量基本誤差：±0.05%
損耗因素D值范圍：0.0001～9.9999五位數顯
HJAS2875B低頻絕緣材料介電常數介質損耗測試系統由=測試裝置（夾具）、介電常數測試主機、組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的解決方案。
主要參數：
工作頻率范圍：20Hz～1MHz精度：±0.01%
電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F六位數顯
電容測量基本誤差：±0.05%
損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999六位數顯