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光電測定法是測定反射率的一種精密方法。用光電元件測定反射率標準和被測物體反射光產生的光電流，將電流強度代入一定計算公式，即可由標準的反射率算出被測物體的反射率。
有些半導體如硫化鎘等，在黑暗的環境下它的電阻是很高的，如受到光的照射，半導體原子中的電子被激發，增加了導電性能，使半導體的電阻減低，故光照射到光電阻上時線路中的電流就增大。硫化鎘光電阻是有硫化鎘單晶體制成的，單晶體積很小，放置在塑料壓成的基板上如圖1所示。基板上有不銹鋼制成的兩個電極，用特種銀膏時晶體與電極連接，在基板的上面用塑料壓成的保護罩，保護罩的頂端有塑料制成的小窗以便光線透入，透明塑料對光線的透明度必普通的玻璃好，為了適合需要，保護罩頂端的小窗有平面的，亦有制成透鏡式的，透鏡式的聚焦后的光線使照度提高2-3倍，靈敏度也將有所增加 。
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