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利用 Agilent 5900 SVDV ICP-OES實現快速可靠的 US EPA 方法 200.7 合規分析

一次分析即可測定所有元素 許多環境實驗室使用 ICP-OES 并根據法規方法（例如 US EPA 200.7）來分析大量不 同類型的樣品：水、土壤和污泥。為快速獲得高質量的分析結果，快速分析和無差 錯的工作流程至關重要。樣品前處理或儀器性能不佳產生的錯誤可能導致必須重新 測量樣品，進而導致分析效率降低。 Agilent 5900 同步垂直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 專為高通量實驗室設計，旨在通 過少的氬氣消耗實現快速的樣品測量。5900 憑借 IntelliQuant 和早期維護反饋 (EMF) 診斷等一系列智能功能，提高了分析和儀器性能。獲得額外的樣品和操作信 息能夠減少儀器意外停機和樣品重新測量，讓您對儀器的操作性能和分析結果更具 信心。

 

面向未來的 ICP-OES 分析： Agilent 5900 SVDV ICP-OES 采用了*的智能光譜組合技術 (DSC)[1] 光學組件，能夠 在一次讀數過程中同時采集軸向和徑向觀測數據。與其他所有 ICP-OES 儀器相比， 5900 的樣品測量時間縮短了一半，并且能夠在短的時間內提供準確的結果，同 時單個樣品的氬氣消耗量低。通過控制單次分析成本，您的 ICP-OES 可處理更多 樣品，從而滿足不斷增加的實驗室需求。

 

利用智能工具縮短停機時間：ICP-OES 的主動維護功能對于滿足 US EPA 200.7 等法規方法規定 的性能標準至關重要。5900 ICP-OES 利用智能 EMF 診斷功能來保持性能，大程度延長儀器的正常運行時間，并防患于未 然。EMF 對儀器的實際使用情況進行跟蹤，不同顏色標識的計數 器（圖 1）顯示了哪些維護活動應當立即執行（紅色），哪些可 以等待（綠色）。即使像蠕動泵管磨損這樣的小問題也將對水樣 分析通常要求的低檢測限造成嚴重影響。EMF 系統可確保僅在必 要時更換消耗品。根據實際使用情況而不是預定計劃表做出維護 決策，可節省時間、精力和費用。

 

標記異常結果： ICP Expert 軟件的異常值條件格式 (OCF) 功能能夠幫助您在大型 數據集中快速、輕松地找到可能存在問題的結果。通過配置該功 能可突出顯示超出用戶自定義限值或未通過測試的結果。例如， OCF 可識別通常由霧化器局部堵塞、泵管磨損或霧化室臟污導致 的低精密度（高 %RSD）結果。在圖 2 中，OCF 對所有 %RSD 大 于 10% 的結果進行了標記（標記“B”）。 使用方法 200.7 分析的許多樣品固體含量較高，因此可能會出現 霧化器局部堵塞。為檢測霧化器堵塞（或泄漏），5900 使用 Neb Alert 功能持續監測霧化器反壓，并與預期值進行比較。如果超過 壓力閾值，則會立即提醒操作者可能發生了堵塞，從而實現快速 響應。

 

方法 200.7 合規分析 利用配備 AVS 7 切換閥系統的 5900 SVDV ICP-OES，根據 方法 200.7 進行水樣的快速分析。MDL 如表 1 所示。每個 樣品僅需 57 秒即可測定其中的所有元素，減少了單個樣 品的氬氣消耗量，大程度提高了收益。EMF 能夠確保維持性能、大程度減少 QC 不合格，從而大程度減 少樣品重新測量。