恒奧德新型測厚儀 使用注意事項
使用注意事項
測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦測厚法，聲波測厚法。
測量注意事項:
⒈在行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
⒏在行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此聲波測厚儀在行對側頭清除附著物質。
本段應用
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制中零件表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與業計算機相連接，并迅速處理數據并輸出偏差值到各種業設備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。主要應用行業:有色金屬的板帶箔、冶金行業的板帶。
3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量度，具有數據輸出、意位置置零、公英制轉換、自動斷電等點。
5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
6、聲波測厚儀:聲波測厚儀是根據聲波脈沖反射原理來行厚度測量的，當探頭發射的聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過測量聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使聲波以恒定速度在其內傳播的各種材料均可采用此原理測量。
主要類型
用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在制和檢修時測量其厚度，以便了解材料的厚薄規格，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產量和安。根據測定原理的不同，常用測厚儀有聲、磁性、渦、同位素等四種。
聲波測厚儀聲波在各種介質中的聲速是不同的，但在同介質中聲速是常數。聲波在介質中傳播遇到二種介質時會被反射，測量聲波脈沖從發射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力業中應用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核件結構尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導體收音機相近，厚度值的顯示多是數字式的。對于鋼材，大測定厚度達2000 mm左右，度在±0.01~±0.1 mm之間。
磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
渦測厚儀當載有頻電的探頭線圈置于被測金屬表面時，由于頻磁場的作用而使金屬體內產生渦，此渦產生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。
同位素測厚儀利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。
