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目錄:北京航天偉創設備科技有限公司>>電性能測試>>介電常數測試儀>> LDJD-B高頻介電常數測試設備

高頻介電常數測試設備
  • 高頻介電常數測試設備
參考價 31500
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準
31500
≥1
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 LDJD-B
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2025-06-10 19:34:07瀏覽次數:1519評價

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產地類別 國產 應用領域 建材/家具,電子/電池,包裝/造紙/印刷
LDJD-B高頻介電常數測試設備可用于固體絕緣材料在高頻(10KHz-110MHz)下,高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介電常數和介質損耗因數,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等電性能的測試。

LDJD-B高頻介電常數測試設備

LDJD-B高頻介電常數測試設備可用于固體絕緣材料在高頻(10KHz-110MHz)下,高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介電常數和介質損耗因數,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等電性能的測試。

高頻介電常數測試設備適用標準

GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法》(等效IEC 602501969

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法》

ASTM D150 Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation

 

測試方法的選擇

測量電容率和介質損耗因數的方法可分成兩種:零點指示法和諧振法。

1.零點指示法適用于頻率不超過50MHz時的測量。測量電容率和介質損耗因數可用替代法;也就是在接入試樣和不接試樣兩種狀態下,調節回路的一個臂使電橋平衡。通常回路采用西林電橋、變壓器電橋(也就是互感耦合比例臂電橋)和并聯T型網絡。變壓器電橋的優點:采用保護電極不需任何外加附件或過多操作,就可采用保護電極;它沒有其他網絡的缺點。

2.諧振法適用于10kHz?幾百MHz的頻率范圍內的測量。該方法為替代法測量,常用的是變電抗法。但該方法不適合采用保護電極。

 

試驗步驟

1. 試樣的制備

試樣應從固體材料上截取,為了滿足要求,應按相關的標準方法的要求來制備。


應精確地測量厚度,使偏差在±0.2%0.005mm)以內,測量點應均勻地分布在試樣表面。必要時,應測其有效面積。

2.條件處理

條件處理應按相關產品規范規定進行。

3.測量

電氣測量按LDJD-B高頻介電常數測試設備說明書進行測量。

1MHz或更高頻率下,必須減小接線的電感對測量結果的影響。此時,可采用同軸接線系統(見圖1所示),當用變電抗法測量時,應提供一個固定微調電容器。

  

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