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上海胤煌科技有限公司

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胤煌科技-光阻法不溶性微粒分析儀檢查原理及技術參數

閱讀:499      發布時間:2024-9-11
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  YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀是按照《CP/USP/JP/EP等藥典-不溶性微粒檢查-第一法-光阻法》檢查規定設計和研發的,主要用于注射劑通則提到的相關注射劑、輸液器具及相關包材的不溶性微粒研究。該設備采用高性能激光光源及補償電路,進樣狹縫及管路采用進口316L及進口PEFE材料,可以直接用于不同介質的不溶性微粒研究。

YH-LEIP 系列光阻法 - 不溶性微粒分析儀.jpg

微信圖片_20240910150910.png

  技術參數方面,YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀有多種型號可供選擇,包括LEIP-6A、LEIP-6AS、LEIP-8A、LEIP-8AS、LEIP-16A、LEIP-16AS、LEIP-32A、LEIP-32AS、LEIP-64A、LEIP-64AS以及LEIP-100A。不同型號之間的區別主要在于通道數量、審計追蹤功能、計數范圍等方面。例如,LEIP-6A沒有審計追蹤功能,而LEIP-6AS則具有此功能;LEIP-100A的通道數量最多,為100個。

微信截圖_20240910160845.jpg

  另外,該設備的檢查范圍為1~700μm,相對標準偏差≤1.5%(標準粒子≥1000粒/ml),微粒檢查密度為0~20000粒/ml,通道分辨率≥95%(≥10μm通道)。攪拌速度為0~2000轉/分,速度可調。工作電源為220V,50Hz,工作溫度為0~40℃。

  總結來說,YH-LEIP系列光阻法不溶性微粒分析儀是一款符合藥典標準的專業設備,適用于不同類型的不溶性微粒研究。用戶可根據自身需求選擇合適型號的產品,并了解其具體的技術參數,以便正確使用和維護。


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