高低溫探針臺(tái) 金相顯微鏡光學(xué)測(cè)試
雙溫區(qū)探針臺(tái)是用于測(cè)量材料塞貝克系數(shù)(Seebeck系數(shù))的專業(yè)設(shè)備,主要用于熱電材料的性能研究,優(yōu)化熱電轉(zhuǎn)換效率。設(shè)備可同步測(cè)量電阻率,溫度范圍覆蓋83K至673K。
首頁(yè)>>鄭州科探儀器設(shè)備有限公司>>視頻展示>>真空探針臺(tái)>>雙溫區(qū)探針臺(tái)Seebeck系數(shù)測(cè)試
雙溫區(qū)探針臺(tái)是用于測(cè)量材料塞貝克系數(shù)(Seebeck系數(shù))的專業(yè)設(shè)備,主要用于熱電材料的性能研究,優(yōu)化熱電轉(zhuǎn)換效率。設(shè)備可同步測(cè)量電阻率,溫度范圍覆蓋83K至673K。
高低溫探針臺(tái) 金相顯微鏡光學(xué)測(cè)試
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)