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產品簡介
詳細介紹
主要應用：
滿足各類型太陽能電池的測試，如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導體化合物[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、CIGS (銅銦硒化物)、有機太陽能電池(Organic/polymer solar cells)、鈣鈦礦太陽能電池、疊層太陽能電池測試等；
主要特點：
• 長壽命LED 燈源：平均20000小時；
• 有效光斑面積：500mmX500mm；
• 匹配標準AM1.5G 標準光譜；
• 有效光譜范圍：300nm~1200nm；
• 初始光強1.3sun；
• 匹配IEC60904-9 Ed.3國際標準；
• 光譜不匹配性：<±12.5% A+ 級
• 光強不均勻性：<2% A 級
• 光強不穩定性：<1% A+ 級（LTI）
• 光強軟件調節功能，范圍10%~100%；
• 光譜軟件調節功能；
• 光強實時反饋控制單元；
• 工作距離：510mm for A class nonuniformity；
• 制冷方式：空冷；
• 光室尺寸：W 900 × H 780 × D 1177 mm
• 電源尺寸：Size: W 652 × H 693 × D 786 mm
實測光譜：
IV 測試單元：
KTITHLEY 數字源表
標準電池：
• 追溯性：計量機構；
• 標準電池尺寸：20mm*20mm，材質單晶硅電池；
• 窗口玻璃可選：KG2，KG5和BK5
• 內置PT100標準溫度傳感器；
• 認證機構出具證書；
• 附帶測試數據。
太陽能電池IV測試軟件：
1. IV特性曲線
（1）光照條件下，單次測試（包含正向電壓掃描和反向電壓掃描）記錄光電池IV特性曲線，并輸出各項指標參數，包括Voc（開路電壓）、Isc（短路電流）、Pmax、Vmaxp、Imaxp、Rs（串聯電阻）、Rsh（并聯電阻）、Jsc（短路電流密度）、FF（填充因子）、η（發光效率），同時可以查看整個象限的IV曲線；
（2）光照條件下，連續多次測量（包含正向電壓掃描和反向電壓掃描）記錄光電池當前及多次測量疊加的IV特性曲線，并實時顯示每次測試結果的統計數據，對多次測量的間隔時間可以進行自定義設置；
（3）電壓掃描方向控制用戶可以根據需要，進行單次、多次的正向或反向掃描電壓IV測試，也可以進行單次、多次的正反向電壓交替測試；
（4）暗態下，測量電池的并聯電阻Rsh，包括單次測量和多次連續測量；
2.太陽光模擬器校準采用標準光電池對太陽光模擬器的強度進行校準；
3.暗態測試測量串聯電阻Rs，檢驗電池樣品的特性；
4.穩態（偏壓）測試在 Vpmax 或者一定偏壓下，測量效率η 、電流密度 Jsc、電流 I 和功率點 Pmax 隨時間 t的穩定性曲線；
5.MPPT追蹤測試正向或者反向掃描，始終追蹤并測量Pmax功率點隨時間的變化；同時測量該條件下對應的 Vmpp 、Impp 和η 轉換效率隨時間的變化曲線；
6.Repeatability Test重復性測試測量太陽能電池各項參數在多次測量或隨時間的衰減曲線；
7.數據自動或手動保存功能：CSV,TXT,RTF 和JPG截屏。
樣品測試夾具(可根據要求定制)