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     粒度與穩(wěn)定性是決定膠體性質(zhì)的兩個(gè)參數(shù)，膠體的穩(wěn)定性又與Zeta電位密切相關(guān)，在研究和生產(chǎn)過(guò)程中，我們需要測(cè)定Zeta電位來(lái)確定膠體的分散情況從而確定產(chǎn)品的性能。納米粒度與Zeta電位儀是利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測(cè)量粒度、Zeta電位和分子量的儀器，可廣泛應(yīng)用于涂料、飲料乳劑、化妝品、紡織品、微電子工業(yè)、制藥行業(yè)等多個(gè)領(lǐng)域。

     作為材料表征公司，我們一直致力于研發(fā)材料表征的方法與技術(shù)，為廣大用戶(hù)提供更、更廣泛應(yīng)用的測(cè)試技術(shù)。為了和大家分享我們的研究成果，美國(guó)麥克儀器公司定于4月20日在國(guó)家納米科學(xué)中心舉辦題為“納米亞微米顆粒表征技術(shù)簡(jiǎn)介：動(dòng)態(tài)光散射（DLS）與電泳光散射（ELS）"的技術(shù)講座，我們誠(chéng)邀您前來(lái)共同探討、交流本行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)。

研討會(huì)時(shí)間：4月20日13:30

地點(diǎn)： 國(guó)家納米科學(xué)中心科研樓三樓會(huì)議室

地址：北京市海淀區(qū)中關(guān)村北一條11號(hào)

主講人：麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總許人良博士

會(huì)務(wù)：郭銳

：-807

技術(shù)講座基本內(nèi)容：

?    納米顆粒表征綜述

?    光子相關(guān)光譜PCS技術(shù)研究進(jìn)展

?    全新的Zeta電位測(cè)樣技術(shù)

—如何測(cè)量濃溶液的Zeta電位？

—如何測(cè)量平整固體表面或薄膜的液固界面Zeta電位？

?    粒度與Zeta電位的應(yīng)用領(lǐng)域

主講嘉賓簡(jiǎn)介：

     許人良博士現(xiàn)任麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司總，從事顆粒特性研究和檢測(cè)技術(shù)30多年，是該領(lǐng)域資深專(zhuān)家。他于1980年代在美國(guó)獲得博士學(xué)位，并在2002年在美國(guó)獲得MBA學(xué)位。

      他已發(fā)表了基礎(chǔ)理論研究和應(yīng)用領(lǐng)域的科技文章100余篇；獲得3項(xiàng)美國(guó)；研究成果在科學(xué)檢索引用超過(guò)3000多次；在美國(guó)各大學(xué)和世界各地進(jìn)行過(guò)學(xué)術(shù)講座100多次；并著有顆粒表征中的著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》?，F(xiàn)在擔(dān)任眾多專(zhuān)業(yè)期刊的評(píng)委；ISO, ASTM, IAB of PERC的委員會(huì)成員；為多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的起草者；被列為美國(guó)和世界名人榜。許人良博士經(jīng)?；钴S在中國(guó)國(guó)內(nèi)學(xué)術(shù)領(lǐng)域，在多所大學(xué)進(jìn)行科技講座?，F(xiàn)兼任上海華東理工大學(xué)教授，上海師范大學(xué)教授，沈陽(yáng)科學(xué)技術(shù)學(xué)會(huì)特邀外國(guó)專(zhuān)家，與粉體監(jiān)測(cè)與控制聯(lián)合會(huì)理事。