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Siner 正立金相顯微鏡NM2000

 常規(guī)檢測(cè)的合適工具
NM2000系列采用了模塊化設(shè)計(jì)，提供定制和改造方案，為工礦企業(yè)、教學(xué)、科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測(cè)等領(lǐng)域提供了多樣化的解決方案。
可實(shí)現(xiàn)明暗場(chǎng)觀察功能，比如明場(chǎng)下的金屬鋁，暗場(chǎng)下的木材以及透射光下的隕石等。
*的偏振光系統(tǒng)，校正目鏡筒：可使右側(cè)的目鏡十字線方向始終保持不變。檢偏裝置：可360°旋轉(zhuǎn)、鎖定、移出光路，帶刻度，調(diào)中轉(zhuǎn)換器，無(wú)遠(yuǎn)無(wú)應(yīng)力平場(chǎng)物旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)，游場(chǎng)格值6，中心可調(diào)，可鎖定；起置：可360°旋轉(zhuǎn)，鎖定。調(diào)焦裝置：粗微同軸調(diào)焦，粗調(diào)帶松緊調(diào)節(jié)，并有調(diào)焦上限位裝置。