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蘇州英飛思科學儀器有限公...

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XRF分析測厚儀在金屬薄膜鍍層厚度和成分分析的應用

閱讀:1057      發布時間:2022-10-11
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X射線測厚儀EDX8000B---金屬薄膜鍍層厚度和成分分析


EDX8000B鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域

技術指標

多鍍層分析,1~5層;

測試精度:0.001 μm;

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);

測量時間:10~30秒;

SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;

探測器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射線管50kV/1mA,銠靶;

8個準直器及多個濾光片自動切換;

高清CCD攝像頭(500萬像素),準確監控位置;

多變量非線性去卷積曲線擬合;

高性能FP無標樣分析軟件;

測厚儀,專業表面處理檢測解決方案:EDX8000BX射線測厚儀,專用于檢測各種異形件,特別是五金類模具、衛浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。


xrf光譜圖


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