DualScope FMP40 巧妙融合磁感應與電渦流兩種測量技術，以應對不同材質的測量需求。當測量鐵磁材料（如鋼鐵）表面涂層時，儀器采用磁感應法。探頭內激勵電流生成低頻磁場，該磁場穿透涂層與鐵磁基材相互作用，因涂層厚度不同，磁場強度和分布會產生變化。儀器測量線圈捕捉這一變化，并依據內置探頭特征曲線及復雜算法，精準計算出涂層厚度，該方法遵循 DIN EN ISO 2178、ASTM B499 等標準，在鋼鐵表面較薄涂層測量中表現優秀。
而在測量非鐵磁金屬（如鋁、銅、不銹鋼等）表面涂層時，DualScope FMP40 切換至電渦流測量模式。探頭激勵電流產生高頻初級磁場，在非鐵磁基材中激發電渦流，進而產生次級磁場削弱初級磁場。這一削弱程度與探頭和基材間距離（即涂層厚度）相關，儀器通過檢測該變化，結合內部算法及探頭特征曲線，將信號轉化為精確的涂層厚度數值，符合 DIN EN ISO 2360 標準，適用于各類非鐵磁金屬表面涂層測量。
