微處理器芯片測試裝置chiller適用于航空航天、電工電子、儀器儀表、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品研發(fā)等，同時可通過此試驗，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制及新產(chǎn)品的研制等。
一、微處理器芯片測試裝置chiller工作原理：
試驗機(jī)輸出氣流將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔，試驗機(jī)輸出的高溫或低溫氣流，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗。
二、對比傳統(tǒng)溫箱，微處理器芯片測試裝置chiller特點：
1、高低溫溫度范圍在-85~250°C，控溫精度±0.5°C。
2、采用氣動控制，轉(zhuǎn)換時間短，溫變速度快，設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小，提高了工作室的溫度均勻性。
3、微處理器芯片測試裝置chiller升降速率非常快速，升降溫時間可控，程序化操作、手動操作、遠(yuǎn)程控制。
4、超大觸摸屏操作，外觀簡潔大方，操作簡單方便，設(shè)定值實際值實時顯示；
5、測試條件：環(huán)境溫度20°C，10~30m3/h，5~7Bar，干燥壓縮空氣或者氮氣。
