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二維平移光譜響應測試探針臺介紹

閱讀:427        發布時間:2024-1-16

產品說明:

TLRH系列二維平移光譜響應測試探針臺是一款專用于半導體材料光電測試的系統。其功能全面,提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應速率測試。實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試,豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源,例如超連續白光激光器,皮秒脈沖激光器,半導體激光器,鹵素燈,氙燈等,滿足不同探測器測試功能的要求。是半導體微納器件研究的優選。

功能應用:

光譜響應度

單色光/變功率IV;

不同輻照度IT曲線

不同偏壓下的IT曲線

光電流Mapping曲線測試;

線性度測試

響應速率測試

瞬態光電壓

瞬態光電流


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