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集成能譜場發射掃描電鏡Apreo ChemiSEM新品發布會

閱讀:194      發布時間:2024-8-20
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引言

研究先進材料需要對樣品的表面、結構和化學成分有深刻的理解。無論您是在研究下一項創新,還是專注于產品開發和制造,了解樣品材料屬性都可以幫助您分析源材料的來源和純度,評估缺陷,并確保成品的質量。

Thermo Scientific™ Apreo™ ChemiSEM™ 系統革新并簡化了這些分析。通過將高分辨率成像、元素分析和結構分析的硬件和軟件集成,它提供了一個流暢直觀的工作流程,適用高通量的實驗室,并為各種樣品提供高性能分析。

特邀專家

集成能譜場發射掃描電鏡Apreo ChemiSEM新品發布會

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會議日程

2024年8月28日14:00-16:00

時間主題演講嘉賓
14:00-14:05Apreo ChemiSEM產品視頻/
14:05-14:10開場致辭賽默飛高級商務總監陳廳行;賽默飛高級產品市場總監Kevin Fairfax;中國科學院上海硅酸鹽研究所曾毅
14:10-14:40掃描電鏡和EBSD的應用中國科學院上海硅酸鹽研究所曾毅
14:40-15:10掃描電鏡低電壓成像技術:回顧與討論華南理工大學孫千
15:10-15:30Apreo ChemiSEM實機演示賽默飛上海納米港
15:30-15:50Apreo ChemiSEM產品介紹賽默飛業務拓展經理王慧敏
15:50-16:00有獎問答/
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