luceo/富洛托·斯特雷內耶LSM-9001NIR特征？

時間：2023/10/27閱讀：415

LSM-9001NIR

用二維分布評估低相位差樣品的應變,如半導體片、彩色玻璃和彩色丙烯酸樹脂制品。
評估到大約。一分鐘50x50毫米。

型號名稱&t;
　全自動應變眼
檢查方法&t;
　Nir旋轉分析儀法

*全自動測量可減少測量者的工作和測量誤差。
　只需放置要測量的對象,然后單擊測量按鈕.利用內置相機捕捉的信息獲得測量結果是可能的。由于不需要測量者的判斷,因此這種判斷所造成的測量錯誤被消除。

*這可以對半導體片、有色或透明產品、殘余應力和裂紋進行應變評價,而這些都是用傳統的偏振鏡無法測量的。

*軟件分析工具
　二維分布圖、任意設置區域的直方圖、二維分布圖的三維顯示、測量結果的CSV存儲和圖像存儲。這些功能包括在軟件中。它們有助于分析評價結果。

*長壽和節能
　高亮度LED被用作光源。這減少了與更換光源有關的維護時間和運行成本。

檢查方法	Nir旋轉分析儀法
測量范圍(約)	0～150nm (Retardation)
測量面積	(approx.) 50×50mm
測量對象放置空間(高度)	最大160毫米
尺寸	W300 ? D353 ? H540 mm
重量	22千克
其他人	光源:高發光體 PowerSorce：AC100～240V 50/60Hz DC input 24V 1.6A 構成部分:主機、PC、電纜附屬物:主體罩組織:窗口10專業(64位)日語/英語