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arroyoinstruments/TEC 溫度控制器/5300 系列 TECSource2024/4/17
5300系列特點TECSource溫度控制器為您的激光應用帶來精確的溫度控制。每個TECSource都具有超穩定的性能和可調的PID控制。5300系列TECSource增加了多個傳感器支持、集成風扇電...
arroyoinstruments/TEC 溫度控制器5240 系列 TECSource2024/4/17
5240系列TECSource5240系列特性TECSource溫度控制器為您的激光應用帶來精確的溫度控制。每個TECSource都具有超穩定的性能和可調的PID控制。5240系列TECSource提...
arroyoinstruments激光二極管驅動器4200-DR 系列激光源2024/4/17
4200-DR激光二極管驅動器系列特性4200-DR系列LaserSource雙范圍激光二極管驅動器非常適合低功率應用,例如蝶形和TO-can激光器以及許多LED應用。緊湊的外殼占用空間很小我們的許多...
kernel直流并聯測試儀DCI02301介紹2024/4/16
什么是直流分流測試儀?該裝置是為了測試并網功率調節器的直流分流流出檢測功能而創建的,是一種適用于極小電流的超低噪聲直流電流源。該裝置的輸出做成一個環路并疊加在目標功率調節器的電流傳感器的臨時側,并且來...
日本kernel再生直流模擬電源BPS02500WA2024/4/16
什么是再生直流模擬電源?一種可模擬蓄電池(BT模式)和太陽能電池(PV模式)的再生雙向直流電源。根據模式的不同,內部硬件配置會進行切換,以實現更忠實的模擬輸出。非常適合開發蓄電池逆變器、太陽能電池功率...
日本kernel多模塊模擬電源MEP12281介紹?2024/4/16
什么是多模塊模擬電源?該設備是模擬太陽能電池輸出的電源設備,旨在用于功率調節器的開發和測試。配置是使用跳線串并聯300W模擬模塊,并且可以設置每個模塊的IV曲線。我公司開發的模擬模塊忠實地再現了太陽能...
kernel便攜式太陽能電池模擬供電裝置PVS01203介紹2024/4/16
什么是便攜式太陽能電池模擬供電裝置?這是一款模擬太陽能電池輸出的電源裝置,專門用于大學和研究所的實驗。它巧妙地模擬了太陽能電池的輸出,該輸出根據天氣和溫度而變化。可輸入AC100[V],使用方便。此外...
kernel功率調節器評估系統PVU01403介紹2024/4/16
什么是功率調節器評價體系?這是一款模擬太陽能電池輸出的電源裝置,用于功率調節器的開發和測試。它巧妙地模擬了太陽能電池的輸出,該輸出根據天氣和溫度而變化。您可以自由設置各種條件,在室內順利開發和測試功率...
alfalaval壓載水處理解決方案PureBallast 3.1介紹2024/4/15
PureBallast3.1阿法拉伐PureBallast3是第三代的壓載水處理技術,也是第一個可改裝G8的解決方案。它已獲得美國海岸警衛隊(USCG)和國際海事組織(IMO)的型式認證,它在有挑戰性...
jai居里點注射器介紹?2024/4/15
什么是居里點注射器?這是一種比“什么是熱解色譜?”中介紹的居里點熱解器更易于使用的裝置。傳統的熱解器需要安裝并固定在GC入口處,但如果熱解器不經常使用,并且希望將熱解器和液體進樣與一臺GC一起使用,則...
日本jai冷凍破碎機JFC-400/JFC-5000介紹?2024/4/15
什么是冷凍破碎機?如右圖所示,冷凍粉碎機(冷凍粉碎機)是通過將裝有碳化鎢鋼球和樣品的樣品容器安裝到研磨棒上,然后將研磨棒安裝到主體上并將研磨棒放置在研磨棒上而構成的。將整個樣品容器浸泡在液氮中。待樣品...
filmetrics測量聚對二甲苯和真空鍍膜層厚度F3-CS2024/4/13
F3-CSFilmetrics的F3-CS專門為了微小視野及微小樣品測量設計,任何人從一線操作到研&發人員都可以此簡易USB供電系統在數秒鐘內測量如聚對二甲苯和真空鍍膜層厚度.我們的自動校正功能大幅縮...
filmetrics測量真空鍍膜介紹2024/4/13
F10-RT同時測量反射和透射以真空鍍膜為設計目標,F10-RT只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。只需傳統價格的一小部分,用戶就能進行分析、確定FWHM并進行顏色分析。可選的厚度和折射率模塊讓您能夠...
filmetrics眼鏡和其他光學鏡片的防反射涂層F10-ARc2024/4/13
F10-ARc走在前端以較低的價格現在可以很容易地測量曲面樣品,包括眼鏡和其他光學鏡片的防反射涂層,僅需其他設備一小部分的的價格就能在幾秒內得到精確的色彩讀值和反射率測量.您也可選擇升級薄膜厚度測量軟...
filmetrics近紅外光來測量薄膜厚度F3-sX 系列2024/4/13
F3-sX系列F3-sX系列能測量半導體與介電層薄膜厚度到3毫米,而這種較厚的薄膜與較薄的薄膜相比往往粗糙且均勻度較為不佳波長選配F3-sX系列使用近紅外光來測量薄膜厚度,即使有許多肉眼看來不透光(例...

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