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北崎國際貿易（北京）有限公司
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日本三豐MITUTOYO防冷劑千分尺 MDC-PX2025/3/17
防冷劑千分尺MDC-PXIP65防護等級標準價格（不含稅）：21,300日元測量范圍（mm）：0~25*小顯示量（mm）：0.001*有關產品的*庫存狀況和交貨日期，請與貿易公司或我們的銷售辦事處聯系...
293-257-30日本三豐MITUTOYO防冷卻液千分尺2025/3/17
防冷卻液千分尺MDC-125~300MXIP65防護等級標準價格（不含稅）：42,000日元測量范圍（mm）：100~125最小顯示量（mm）：0.001*有關產品的最新庫存狀況和交貨日期，請與貿易公...
RIGAKU理學全內反射 X 射線熒光光譜儀TXRF 310Fab2025/3/17
TXRF310Fab系列全內反射X射線熒光光譜儀分析痕量從輕元素Na到重元素U的污染物元素采用轉子式高功率X射線發生器和新設計的入射X射線單色器。過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米...
RIGAKU理學全內反射X 射線熒光光譜儀TXRF 37602025/3/15
TXRF3760系列全內反射X射線熒光光譜儀對晶圓表面的污染進行無損、非接觸式和高靈敏度分析轉子式高功率X射線發生器和新設計的入射X射線單色器過渡金屬LLD10采用直接TXRF測量方法8原子/厘米2達...
RIGAKU日本理學用于薄膜評估的 X 射線熒光光譜儀WaferX 3102025/3/15
WaferX310系列用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF）可以無損、非接觸式方式同時分析300mm和200mm晶圓上各種薄膜的厚度和成分。這是一種波長色散X射線熒光光...
RIGAKU日本理學晶圓磁盤分析儀 36502025/3/15
晶圓/磁盤分析儀3650用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀對各種薄膜的厚度和成分進行同步、無損、非接觸分析這是一種波長色散X射線熒光光譜儀（WD-XRF），可以以非破壞性、非接觸的方式同時分析最大~200...
RIGAKU日本理學 X 射線熒光光譜儀2025/3/15
AZX400用于薄膜評估的X射線熒光光譜儀將Be~U中的所有元素（包括B、C、N和O）包含在一個單元中，這些元素是重要的半導體材料波長色散X射線熒光（WDX）光譜儀的**模型WDX具有高信噪比和高分辨...
日本三豐MITUTOYO高精度CNC三坐標測量機 STRATO系列2025/3/15
高精度CNC三坐標測量機STRATO系列初項高達1μm以內高精度下，實現高速、高加速度驅動的高速掃描。產品特點與優勢STRATO-Apex系列是高精度CNC三坐標測量機，該系列通過優化本體結構、導軌構...
日本三豐CRYSTA-Apex V 標準CNC型三坐標測量機2025/3/11
CRYSTA-ApexV標準CNC型三坐標測量機產品特點與優勢CRYSTA-ApexV系列是追求高精度、高速度、多樣性的新一代CNC三坐標測量機，為實現利用IoT深度生產管理和品質管理信息的智能工廠提...
日本MITUTOYO三豐QV HYPER 302影像測量機2025/3/11
QVHYPER302/404/606配備高分辨力、高精度標尺的高精度機型。產品特點與優勢QVHYPERPro系列是配備高分辨力、高精度標尺的高精度型影像測量機。●配備可瞬間對焦工件的跟蹤自動對焦裝置的...
日本三豐MITUTOYOULTRA QUICK VISION 超高精度CNC影像測量機2025/3/11
ULTRAQUICKVISION超高精度CNC影像測量機。產品特點與優勢ULTRAQUICKVISION是實現測量精度E1XY（0.25+2L/1000）μm的高精度CNC影像測量機。●X,Y,Z各軸...
日本三豐QVH4 APEX 302/404/606 PRO影像測量機2025/3/11
搭載非接觸式位移傳感器，實現微細階差或3D形狀測量的復合型影像測量機。產品特點與優勢QVH4Pro是配備非接觸式位移傳感器、可利用掃描功能測量細微階差和3D形狀的復合型測量機。·配備波長共焦方式的非接...
日本KETT快速水份測定儀 多路水分測試儀 PM-3902025/3/11
特征無需初步樣品處理僅放置樣品即可進行無損測量作快速簡便已安裝25條校準曲線Coffee和Pepper的新校準曲線規格測量方法介電常數應用谷物、咖啡、黑胡椒、種子、堅果、茶等。測量范圍1-40%（取決...
日本KETT快速水份測定儀 谷物水分測定儀 PB-3100 series2025/3/10
特征電阻型、標準臺式大米和谷物水分測試儀可連接打印機規格測量方法交流電阻格式應用●型號PB-3103稻谷、米糠、蒸谷米、蒸谷稻、木薯顆粒、木薯粉●型號PB-3104小麥、面粉（蛋糕和面條、面包和意大利...
日本KETT凱特谷物水分測試儀 PM-650 series2025/3/10
特征測量各種谷物、豆類、堅果、種子的水分（%）和堆積密度（g/L）。（請參閱應用手冊）符合國際水分分析標準的精確谷物水分分析儀僅通過倒入樣品進行無損測量具有自動重量補償功能，可實現準確測量向政府和私營...
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